Показаны результаты 1 - 1 из 1
Год выпуска | Название | Автор(ы) | Тип | Просмотров | Загружено |
---|---|---|---|---|---|
2014 | Evaluation of Vertical Coherence Length, Twist and Microstrain of GaAs / Si Epilayers Using Modified Williamson-Hall Analysis | Ravi Kumar, ; Tapas Ganguli, ; Vijay Chouhan, ; Dixit, V.K.; Puspen Mondal, ; Srivastava, A.K.; Mukherjee, C.; Sharma, T.K. | Article | 2082789985 | 1633357901 |