Показаны результаты 1 - 1 из 1
| Год выпуска | Название | Автор(ы) | Тип | Просмотров | Загружено |
|---|---|---|---|---|---|
| 2021 | Calibration of X-ray Diffraction Measurements for Depth-selective Structural Analysis of Two-layer Samples | Danilchenko, S.N.; Kochenko, O.V.; Kalinkevich, A.N.; Stepanenko, Andrii Oleksandrovych; Zinchenko, Ye.I.; Danylchenko, P.S.; Protsenko, Ivan Yukhymovych | Article | 960027710 | 1198481696 |