Показаны результаты 1 - 1 из 1
Год выпуска | Название | Автор(ы) | Тип | Просмотров | Загружено |
---|---|---|---|---|---|
2013 | Influence of Impact Ionization Process on Current-Voltage Characteristics of Nanoscale Silicon n-Channel MOSFET | Borzdov, A.V.; Borzdov, V.M.; Pozdnyakov, D.V.; Komarov, F.F. | Conference Papers | 62979759 | 160019295 |