Видання зареєстровані авторами шляхом самоархівування
Permanent URI for this communityhttps://devessuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/1
Browse
11 results
Search Results
Item Raman Characterisation of Cd1−xZnx Te Thick Polycrystalline Films Obtained by the Close-Spaced Sublimation(Institute of Physics of the Polish Academy of Sciences, 2017) Знаменщиков, Ярослав Володимирович; Знаменщиков, Ярослав Владимирович; Znamenshchykov, Yaroslav Volodymyrovych; Косяк, Володимир Володимирович; Косяк, Владимир Владимирович; Kosiak, Volodymyr Volodymyrovych; Опанасюк, Анатолій Сергійович; Опанасюк, Анатолий Сергеевич; Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych; Дорда, Віталій Олександрович; Дорда, Виталий Александрович; Dorda, Vitalii Oleksandrovych; Fochuk, P.M.; Medvids, A.In this work, we studied the Raman spectra of thick polycrystalline Cd1-xZnx Te (CZT) films with x ranged from 0.06 to 0.68. Additionally, the surface morphology and structural properties were studied in order to determine the crystalline quality of the samples. The Raman spectra had a two-mode behavior typical for CZT solid solution and showed CdTe- and ZnTe-like longitudinal and transverse optical modes. The relationship between the frequencies of CdTe- and ZnTe-related modes on x was studied. We observed the deviation of the compositional dependence of phonon mode frequencies for polycrystalline CZT films in comparison with a similar dependence for CZT single crystals. Such deviation was caused by the effect of structural defects in polycrystalline films on frequencies of vibrational modes. The values of excitation wavelength, which allow achieving of high signal-to-noise ratio on the Raman spectra of CZT films with different zinc concentration in the result of resonant enhancement of phonon modes intensities, were experimentally determined.Item Плівки напівпровідників та металів, одержані методом тривимірного друку, для пристроїв електроніки(Національна академія наук України; Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України; Рада молодих вчених Інституту фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2019) Знаменщиков, Ярослав Володимирович; Знаменщиков, Ярослав Владимирович; Znamenshchykov, Yaroslav Volodymyrovych; Шкиря, Ю.І.; Колесник, Максим Миколайович; Колесник, Максим Николаевич; Kolesnyk, Maksym Mykolaiovych; Пшеничний, Роман Миколайович; Пшеничный, Роман Николаевич; Pshenychnyi, Roman Mykolaiovych; Опанасюк, Анатолій Сергійович; Опанасюк, Анатолий Сергеевич; Opanasiuk, Anatolii SerhiiovychВ роботі досліджені властивості плівок, нанесених 3D друком чорнилами на основі наночастинок металевих (Ag) та напівпровідникових (ZnO, Cu2ZnSnS4) сполук. Такі напівпровідникові плівки можуть бути використані у якості чутливих шарів приладів сенсорики, оптоелектроніки, геліоенергетики, а металічні шари, як струмопровідні доріжки.Item 3D printing of nanoinks based on the metal and semiconductor nanoparticles(Sumy State University, 2017) Доброжан, Олександр Анатолійович; Доброжан, Александр Анатольевич; Dobrozhan, Oleksandr Anatoliiovych; Салогуб, Анна Олександрівна; Салогуб, Анна Александровна; Salohub, Anna Oleksandrivna; Знаменщиков, Ярослав Володимирович; Знаменщиков, Ярослав Владимирович; Znamenshchykov, Yaroslav Volodymyrovych; Опанасюк, Анатолій Сергійович; Опанасюк, Анатолий Сергеевич; Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych; Kononov, О.К.Nowadays, we observe the transition for creation of the domestic and industry objects from the traditional methods involving the assembling of the different parts obtained by cutting, molding or otherwise to the additive manufacturing which refers to the object formation by using a layer-by-layer deposition of the versatile materials (metals, plastics, glasses, and so on) in the one 3D printing technological process. In the electronics, the attention should be given to the especially perspective technology, that is 3D ink printing of inks based on the metal nanoparticles (Ag, Cu, Sn) to obtain the printed circuit boards, charge-collecting contacts of thin-film solar cells and its connections with the external loads. Moreover, the inks based on the semiconductor materials (Cu2ZnSn(S,Se)4, ZnO) are the promising for the use in the sensitive elements of photoconverters, thermoelectric generators, transparent electronics, gas sensors, and touchpads.Item The surface morphology, structural properties and chemical composition of Cd1-xZnxTe polycrystalline thick films deposited by close spaced vacuum sublimation(Elsevier, 2017) Знаменщиков, Ярослав Володимирович; Знаменщиков, Ярослав Владимирович; Znamenshchykov, Yaroslav Volodymyrovych; Косяк, Володимир Володимирович; Косяк, Владимир Владимирович; Kosiak, Volodymyr Volodymyrovych; Опанасюк, Анатолій Сергійович; Опанасюк, Анатолий Сергеевич; Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych; Ponomarov, А.А.; Romanenko, A.V.; Stanislavov, A.S.; Medvids, A.; Шпетний, Ігор Олександрович; Шпетный, Игорь Александрович; Shpetnyi, Ihor Oleksandrovych; Gorobets, Yu.I.; Dauksta, E.Тонкі полікристалічні плівки Cd1-xZnxTe з х варіювалися від 0,37 до 0,80 були отримані метод вакуумної сублімація з близькою відстанню. Для дослідження властивостей структурних властивостей були проведені дослідження PIXE і Раман. Визначення хімічного складу плівок за допомогою EDS, PIXE і XRD показало гарне співвідношення результатів. Раман-спектроскопія виявляє зв'язок між концентрацією цинку і коливальними властивостями плівок. Дослідження просторового розподілу хімічних елементів на поверхні плівки за допомогою мікропіксела і мікрорамановской спектроскопії показали, що плівки однорідні і не містять вторинних фаз, таких як CdTe, ZnTe і ТеItem Composition dependence of structural and optical properties of Cd1-xZnxTe thick films obtained by the close-spaced sublimation(Elsevier, 2016) Косяк, Володимир Володимирович; Косяк, Владимир Владимирович; Kosyak, Volodymyr Volodymyrovych; Знаменщиков, Ярослав Володимирович; Знаменщиков, Ярослав Владимирович; Znamenshchykov, Yaroslav Volodymyrovych; Čerškus, A.; Dauksta, E.; Гнатенко, Юрій Павлович; Гнатенко, Юрий Павлович; Gnatenko, Yurii Pavlovych; Grase, L.; Vecstaudza, J.; Medvids, A.; Опанасюк, Анатолій Сергійович; Опанасюк, Анатолий Сергеевич; Opanasiuk, Anatolii SerhiiovychУ даній роботі представлені результати структурної, фотолюмінесценції та рамановської характеристики товстих плівок Cd1-xZnxTe з різною концентрацією цинку, отриманих методом вакуумної сублімаціїз близькою відстанню. Аналіз зразків рентгенівських променів дозволяє визначити вплив концентрації цинку на якість кристалів плівок. Було встановлено, що зразки з х ≈ 0,10 і х ≈ 0,32 мають високу якість кристалів. Однак зі збільшенням концентрації цинку якість кристала зменшується. Цей результат був підтверджений дослідженням фотолюмінесценції. А саме, спостерігалося значне погіршення оптичних властивостей зразків з високою концентрацією цинку (х> 0,32). Спектроскопія комбінаційного розсіювання показує співвідношення між концентрацією цинку і коливальними властивостями плівок. Крім того,метод мікрораманів показує, що отримані плівки є однорідними і вільними від включень телуру.Item Composition dependence of structural and optical properties of Cd1−xZnxTe thick films obtained by the close-spaced sublimation(Journal of Alloys and Compounds, 2016) Косяк, Володимир Володимирович; Косяк, Владимир Владимирович; Kosiak, Volodymyr Volodymyrovych; Знаменщиков, Ярослав Володимирович; Знаменщиков, Ярослав Владимирович; Znamenshchykov, Yaroslav Volodymyrovych; Čerškus, А.; Gnatenko, Yu.P.; Grase, L.; Vecstaudza, J.; Medvids, A.; Опанасюк, Анатолій Сергійович; Опанасюк, Анатолий Сергеевич; Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych; Mezinskis, G.This paper reports the results of structural, photoluminescence and Raman characterization of thick Cd1−xZnxTe films with different zinc concentration obtained by the close spaced vacuum sublimation method. The analysis of the X-rays patterns allows us to determine the effect of the zinc concentration on crystal quality of the films. It was found that samples with x ≈ 0.10 and x ≈ 0.32 have high crystal quality. However, with increasing of zinc concentration the crystal quality decreases. This result was confirmed by the photoluminescence study. Namely, the significant degradation of optical properties for the samples with high zinc concentration (x > 0.32) was observed. Raman spectroscopy reveals the relation between zinc concentration and vibrational properties of the films. Also, the micro-Raman method shows that obtained films are uniform and free of tellurium inclusions.Item Structural and microstructural properties of CdxZn1-xTe films deposited by Close Spaced Sublimation(Journal "Functional Materials", 2016) Знаменщиков, Ярослав Володимирович; Знаменщиков, Ярослав Владимирович; Znamenshchykov, Yaroslav Volodymyrovych; Косяк, Володимир Володимирович; Косяк, Владимир Владимирович; Kosiak, Volodymyr Volodymyrovych; Опанасюк, Анатолій Сергійович; Опанасюк, Анатолий Сергеевич; Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych; Колесник, Максим Миколайович; Колесник, Максим Николаевич; Kolesnyk, Maksym Mykolaiovych; Гриненко, Віталій Вікторович; Гриненко, Виталий Викторович; Hrynenko, Vitalii Viktorovych; Fochuk, P.M.В роботі були досліджені структурні властивості (мікронапруження, текстура, період гратки, розмір областей когерентного розсіювання) та хімічний склад плівок Cd1-xZnxTe (CZT) зі змінною концентрацією цинку. Шари отримані методом термічного випаровування в квазізамкненому об’ємі на підкладках зі скла, покритого молібденом. Властивості плівок були досліджені за допомогою методів рентгенівської дифрактометрії, енергодисперсної спектроскопії, скануючої електронної мікроскопії. Концентрація цинку в шарах CdZnTe була визначена за результатами EDS та за значеннями параметра кристалічної гратки матеріалу, відповідно до літературних даних. Було встановлено, що шари CZT мали концентрації цинку: x = 0.09, x = 0.24, x = 0.30.Item Influence of zinc concentration on structural and optical properties of polycrystalline CZT thick films obtained by the close spaced sublimation(Цифра принт, 2016) Знаменщиков, Ярослав Володимирович; Знаменщиков, Ярослав Владимирович; Znamenshchykov, Yaroslav Volodymyrovych; Косяк, Володимир Володимирович; Косяк, Владимир Владимирович; Kosiak, Volodymyr Volodymyrovych; Опанасюк, Анатолій Сергійович; Опанасюк, Анатолий Сергеевич; Opanasiuk, Anatolii SerhiiovychThis paper reports results of studying of effect of zinc concentration on structural and optical properties of Cd1-xZnxTe thick films. Also the possibility of obtaining of high-quality thick polycrystalline CZT films with high Zn concentration (x>0.1) will be established.Item Photoluminescence of CdZnTe thick films obtained by close-spaced vacuum sublimation(Elsevier, 2016) Опанасюк, Анатолій Сергійович; Опанасюк, Анатолий Сергеевич; Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych; Косяк, Володимир Володимирович; Косяк, Владимир Владимирович; Kosiak, Volodymyr Volodymyrovych; Знаменщиков, Ярослав Володимирович; Знаменщиков, Ярослав Владимирович; Znamenshchykov, Yaroslav Volodymyrovych; Gnatenko, Yu.P.; Čerškus, Aurimas; Grase, L.; Medvids, A.; Mezinskis, G.Polycrystalline Cd1 xZnxTe thick films with thicknesses of about 30 μm have been deposited on a Mo coated glass substrate by means of close-spaced vacuum sublimation technique. X-ray diffraction mea- surements have shown that the films obtained have only cubic zinc blende phase.The influence of Zn concentration onthe photoluminescence (PL) spectra of Cd1 xZnxTe films was investigated. This let us determine the nature and energy structure of the intrinsic defects and residual impurities in the films.Item Photoluminescence of CdZnTe thick films obtained by close-spaced vacuum sublimation(Elsevier, 2015) Косяк, Володимир Володимирович; Косяк, Владимир Владимирович; Kosiak, Volodymyr Volodymyrovych; Знаменщиков, Ярослав Володимирович; Знаменщиков, Ярослав Владимирович; Znamenshchykov, Yaroslav Volodymyrovych; Gnatenko, Yu.P.; Опанасюк, Анатолій Сергійович; Опанасюк, Анатолий Сергеевич; Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych; Mezinskis, G.; Grase, L.; Medvids, A.; Čerškus, A.Polycrystalline Cd1 xZnxTe thick films with thicknesses of about 30 μm have been deposited on a Mo coated glass substrate by means of close-spaced vacuum sublimation technique. X-ray diffraction measurements have shown that the films obtained have only cubic zinc blende phase. The influence of Zn concentration on the photoluminescence (PL) spectra of Cd1 xZnxTe films was investigated. This let us determine the nature and energy structure of the intrinsic defects and residual impurities in the films.