Факультет електроніки та інформаційних технологій (ЕлІТ)
Permanent URI for this communityhttps://devessuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/20
Browse
4 results
Search Results
Item Розмірні ефекти в електричних властивостях тонких плівок титану(Украинское вакуумное общество, 1997) Шовкопляс, О.В.; Чорноус, Анатолій Миколайович; Ласюченко, Олена Борисівна; Проценко, Іван Юхимович; Ласюченко, Елена Борисовна; Lasiuchenko, Olena Borysivna; Чорноус, Анатолий Николаевич; Chornous, Anatolii Mykolaiovych; Проценко, Иван Ефимович; Protsenko, Ivan YukhymovychItem Вплив ступеню дисперсності кристалітів на параметри електропереносу металевих матеріалів(Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника, 2003) Білоус, Олена Анатоліївна; Проценко, Іван Юхимович; Чорноус, Анатолій Миколайович; Белоус, Елена Анатольевна; Bilous, Olena Anatoliivna; Chornous, Anatolii Mykolaiovych; Чорноус, Анатолий Николаевич; Проценко, Иван Ефимович; Protsenko, Ivan YukhymovychУ роботі встановлено закономірності внутрішнього ефекту в електрофізичних властивостях металевих матеріалів (плівки товщиною до 400-600 нм та дроти) з Cu, Ni та Мо, які мають різний ступень дисперсності кристалітів у інтервалі проміжних температур. Розрахунок параметрів електропереносу проводився на основі лінеаризованої, ізотропної моделей Тельє-Тоссе-Пішара, моделі Ухлінова-Косаківської, та асимптотичних співвідношень теорії Майядаса-Шатцкеса. Для обробки даних експерименту у дротах були використані формули Дінгла, Нордгейма та Ухлінова-Косаківської. Проведено порівняння та узагальнення отриманих результатів.Показано, що величина коефіцієнта розсіювання на межі зерна та СДВП визначаються ступенем дисперсності кристалітів. // Русск. версия: В работе установлены закономерности внутреннего эффекта в электрофизических свойствах металлических материалов (пленки толщиной до 400-600 нм и провода) с Cu, Ni и Мо, которые имеют разную степень дисперсности кристаллитов в интервале промежуточных температур. Расчет параметров электропереноса проводился на основе линеаризованной, изотропной моделей Телье-Тосса-Пишара, модели Ухлинова-Косаковской, и асимптотических соотношений теории Майядаса-Шатцкеса. Для обработки данных эксперимента в проводах были использованы формулы Дингла, Нордгейма и Ухлинова-Косаковской. Проведено сравнение и обобщение полученных результатов. Показано, что величина коэффициента рассеяния на границе зерна и СГПП определяются степенью дисперсности кристаллитов. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/820Item Some thermodynamic effects in thin film adhesion(Institute for Single Crystals, 2005) Chornous, Anatolii Mykolaiovych; Kirik, G.V.; Protsenko, Ivan Yukhymovych; Stadnik, A.D.; Чорноус, Анатолій Миколайович; Чорноус, Анатолий Николаевич; Проценко, Іван Юхимович; Проценко, Иван ЕфимовичThe following thermodynamic effects have been studied in experiment: the normal adhesion of Ge films as a function of the surface energy of substrate (glass, mica, Al, Cu); the normal adhesion of Ge, Al, Cu and Cr films to Cu and (001) NaCI substrates as a function of the specific surface energy of the film; the dimensional dependence of Cu and Cr adhesion within thickness range of 20 to 250 nm; effect of finely dispersed ferromagnetic and weakly magnetic powders used as fillers in partially crystallized polymer substrates with relatively low specific surface energy on Al film adhesion. An increase in the film thickness as well as in the specific surface energy of the substrate and the film has been found to result in weakened adhesion. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/711Item Thin overlayer influence on electrophysical properties of nickel films(WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim, 2006) Чорноус, Анатолій Миколайович; Чорноус, Анатолий Николаевич; Chornous, Anatolii Mykolaiovych; Говорун, Тетяна Павлівна; Говорун, Татьяна Павловна; Hovorun, Tetiana PavlivnaIn this work it is experimentally investigated a size effect in temperature coefficient of resistance (TCR) of Ni films with Cu and Si02 thin overiayer. The parameters of electrical transfer (the mean-free path of electron, the reflectivity coefficient of the external surfaces, the reflection and transmission coefficients at the grain boundary) were calculations. Decreasing of the value of the reflectivity coefficient is due to the change of the surface microrelief. It is show that the value of TCR decreases caused by the conditions of scattering changes on internal and external boundaries. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/583