Эффект влияния границы на распределение КИН для задач теории упругости и электроупругости в R3

Фильштинский, Леонид Аншелович; Ковалев, Юрий Дмитриевич; Олейник, Виктор Михайлович

Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/2236

Використовуйте наступні посилання для розповсюдження матеріалу в соціальних мережах: Рекомендувати цей матеріал

Назва	Эффект влияния границы на распределение КИН для задач теории упругости и электроупругости в R3
Автори	Фильштинський, Леонід Аншелович Ковальов, Юрій Дмитрович Олійник, Віктор Михайлович
ORCID	http://orcid.org/0000-0001-6251-3846
Ключові слова	коэффициенты интенсивности изображений коефіцієнти інтенсивності зображень coefficients of intensity of images задачи теории упругости завдання теорії пружності tasks of theory of resiliency
Вид документа	Стаття
Дати випуску	1998
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу)	http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/2236
Видавець	Издательство СумГУ
Ліцензія
Бібліографічний опис	Фильштинский, Л.А. Эффект влияния границы на распределение КИН для задач теории упругости и электроупругости в R3 [Текст] / Л.А. Фильштинский, Ю.Д. Ковалев, В.М. Олейник // Вісник Сумського державного університету. — 1998. — №1(9). — С. 10-13.
Короткий огляд (реферат)	The boundary-value problems of the electroelasticity and the theory of elasticity for a half-layer, weakened with the through-the-thickness tunnel cracks, are considered. Corresponding boundary-value problems are reduced to the infinite systems of one-dimensional singular integro-differential equations, numerically solved. The results of the calculations of the stress intensity factors (SIF) at the crack tip are deduced. The effect of the influence of a half-layer boundary on SIF propagation is obtained. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/2236
Розташовується у зібраннях:	Вісник Сумського державного університету (1994-1999)