Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/2333
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title Неразрушающие методы исследования оптических свойств тонких окисных пленок ванадия
Authors Ihnatenko, Viktoriia Mykhailivna
Kshniakina, Svitlana Ivanivna
ORCID
Keywords тонкие окисные пленки
тонкі окисні плівки
oxydic thin-films
методы эллипсометрии
методи еліпсометрії
methods of ellipsometry
Type Article
Date of Issue 1994
URI http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/2333
Publisher Издательство СумГУ
License
Citation Игнатенко, В.М. Неразрушающие методы исследования оптических свойств тонких окисных пленок ванадия [Текст] / В.М. Игнатенко, С.И. Кшнякина // Вісник Сумського державного університету. — 1994. — №2. — С. 14-17.
Abstract
Appears in Collections: Вісник Сумського державного університету (1994-1999)

Views

Belarus Belarus
1
Canada Canada
9695
China China
14
Finland Finland
1
France France
3248
Germany Germany
552874
Greece Greece
1
Ireland Ireland
138917
Italy Italy
1
Lithuania Lithuania
1
Mongolia Mongolia
1
Netherlands Netherlands
11
Russia Russia
15
Singapore Singapore
6267756
Turkey Turkey
2
Ukraine Ukraine
2181895
United Kingdom United Kingdom
1105490
United States United States
74744603
Unknown Country Unknown Country
2181894

Downloads

China China
277833
France France
1
Germany Germany
261
Russia Russia
2
Ukraine Ukraine
37419147
United Kingdom United Kingdom
1
United States United States
74744601
Unknown Country Unknown Country
87186421

Files

File Size Format Downloads
C8CC6FCBd01.pdf 364.3 kB Adobe PDF 199628267

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.