Please use this identifier to cite or link to this item:
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/2333
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Неразрушающие методы исследования оптических свойств тонких окисных пленок ванадия |
Authors |
Ihnatenko, Viktoriia Mykhailivna
Kshniakina, Svitlana Ivanivna |
ORCID | |
Keywords |
тонкие окисные пленки тонкі окисні плівки oxydic thin-films методы эллипсометрии методи еліпсометрії methods of ellipsometry |
Type | Article |
Date of Issue | 1994 |
URI | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/2333 |
Publisher | Издательство СумГУ |
License | |
Citation | Игнатенко, В.М. Неразрушающие методы исследования оптических свойств тонких окисных пленок ванадия [Текст] / В.М. Игнатенко, С.И. Кшнякина // Вісник Сумського державного університету. — 1994. — №2. — С. 14-17. |
Abstract | |
Appears in Collections: |
Вісник Сумського державного університету (1994-1999) |
Views
![Belarus](/flags/by.gif)
1
![Canada](/flags/ca.gif)
9695
![China](/flags/cn.gif)
14
![Finland](/flags/fi.gif)
1
![France](/flags/fr.gif)
3248
![Germany](/flags/de.gif)
552874
![Greece](/flags/gr.gif)
1
![Ireland](/flags/ie.gif)
138917
![Italy](/flags/it.gif)
1
![Lithuania](/flags/lt.gif)
1
![Mongolia](/flags/mn.gif)
1
![Netherlands](/flags/nl.gif)
11
![Russia](/flags/ru.gif)
15
![Singapore](/flags/sg.gif)
6267756
![Turkey](/flags/tr.gif)
2
![Ukraine](/flags/ua.gif)
2181895
![United Kingdom](/flags/gb.gif)
1105490
![United States](/flags/us.gif)
62302783
![Unknown Country](/flags/--.gif)
2181894
Downloads
![China](/flags/cn.gif)
277833
![France](/flags/fr.gif)
1
![Germany](/flags/de.gif)
261
![Russia](/flags/ru.gif)
2
![Ukraine](/flags/ua.gif)
37419147
![United Kingdom](/flags/gb.gif)
1
![United States](/flags/us.gif)
49860966
![Unknown Country](/flags/--.gif)
161
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
C8CC6FCBd01.pdf | 364,3 kB | Adobe PDF | 87558372 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.