Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/27513
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title Short history of the scanning electron microscope
Authors Babich, I.M.
ORCID
Keywords electron microscope
электронный микроскоп
електронний мікроскоп
Type Conference Papers
Date of Issue 2012
URI http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/27513
Publisher Видавництво СумДУ
License
Citation Babich, I.M. Short history of the scanning electron microscope [Текст] / I.M. Babich // Актуальні питання теоретичної медицини. Актуальні питання клінічної медицини. Клінічні та патогенетичні аспекти мікроелементозів. Actual problems of fundamental and clinical medicine (in English) : матеріали науково-практичних конференцій студентів, молодих вчених, лікарів та викладачів, м. Суми, 10-12 квітня 2012 р. / Відп. за вип. Л.Н. Приступа. - Суми : СумДУ, 2012. - C. 304.
Abstract
Appears in Collections: Наукові видання (НН МІ)

Views

China China
7
Germany Germany
7
Ireland Ireland
61409
Lithuania Lithuania
1
Netherlands Netherlands
4
Russia Russia
13
Slovakia Slovakia
1
Spain Spain
3232451
Sweden Sweden
1
Switzerland Switzerland
1
Turkey Turkey
3
Ukraine Ukraine
573978
United Kingdom United Kingdom
296798
United States United States
1721128
Unknown Country Unknown Country
573977
Vietnam Vietnam
5121

Downloads

Australia Australia
1
Canada Canada
5118
China China
16
Ethiopia Ethiopia
2
Germany Germany
2
Greece Greece
1
Indonesia Indonesia
19618
Iran Iran
5120
Iraq Iraq
209804
Ireland Ireland
1
Japan Japan
19617
Mexico Mexico
1
Philippines Philippines
1
Portugal Portugal
1
Russia Russia
35823
Singapore Singapore
296799
Spain Spain
3232453
Ukraine Ukraine
1721128
United Kingdom United Kingdom
1
United States United States
6464902
Unknown Country Unknown Country
93
Vietnam Vietnam
1

Files

File Size Format Downloads
Babich.pdf 132,24 kB Adobe PDF 12010503

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.