Використання методу "напівтонких зрізів" для вивчення структури зразків, які використовуються в електронній мікроскопії

Цимбал, М.С.; Бончев, Сергій Дмитрович

Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/35772

Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item

Title	Використання методу "напівтонких зрізів" для вивчення структури зразків, які використовуються в електронній мікроскопії
Authors	Цимбал, М.С. Bonchev, Serhii Dmytrovych
ORCID
Keywords	електронна мікроскопія электронная микроскопия
Type	Conference Papers
Date of Issue	2014
URI	http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/35772
Publisher	Сумський державний університет
License
Citation	Цимбал, М.С. Використання методу "напівтонких зрізів" для вивчення структури зразків, які використовуються в електронній мікроскопії [Текст] / М.С. Цимбал, С.Д. Бончев ; Наук. кер. В.З. Сікора // Актуальні питання теоретичної та практичної медицини : збірник тез доповідей ІІ Міжнародної науково-практичної конференції студентів та молодих вчених, м. Суми, 16-18 квітня 2014 р. / М.В. Погорєлов. - Суми : СумДУ, 2014. - С. 99-100.
Abstract	Вивчення структури напівтонких зрізів незамінний метод морфологічних досліджень. Для того, щоб електронномікроскопічне дослідження досягло своїх прямих цілей (вивчення ультраструктури) майже завжди необхідно проводити вивчення напівтонкого зріза виготовленого препарата. Це дозволяє більш точно та прицільно оцінити топографію досліджуваного об’єкта на тканинному та клітинному рівнях, розширити границі дослідження, використати кольорове фарбування та раціонально вибрати ділянку для виготовлення ультратонких зрізів. При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/35772
Appears in Collections:	Наукові видання (НН МІ)