Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/40067
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title Стандартизація та метрологія у нанотехнологіях
Authors Diadiura, Kostiantyn Oleksandrovych  
Ткач, А.В.
ORCID http://orcid.org/0000-0002-7575-9711
Keywords нанотехнология
нанотехнологія
nanotechnology
стандартизація
стандартизация
standardization
метрологія
метрология
metrology
Type Conference Papers
Date of Issue 2014
URI http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/40067
Publisher Сумський державний університет
License
Citation Дядюра, К.О. Стандартизація та метрологія у нанотехнологіях [Текст] / К.О. Дядюра, А.В. Ткач // Сучасні технології у промисловому виробництві: матеріали та програма ІІІ Всеукраїнської міжвузівської науково-технічної конференції, м. Суми, 22-25 квітня 2014 р.: у 2-х ч. / Редкол.: О.Г. Гусак, В.Г. Євтухов. — Суми: СумДУ, 2014. — Ч.1. — С. 73.
Abstract Прикладні нанотехнології проникають в усі сфери життя, що дозволяє досягти істотних успіхів у всіх наукомістких технологіях, у тому числі в області обміну інформацією, охорони здоров'я, промисловості, матеріалознавстві та інших напрямках. Спектр об’єктів наноіндустрії простягається від ультрадисперсних середовищ до наноструктурованих багатошарових матеріалів та кристалів, включаючи квантоворозмірні структури з розмірності локалізації.
Appears in Collections: Наукові видання (ТеСЕТ)

Views

Canada Canada
1
China China
1
France France
1
Germany Germany
193289
Greece Greece
1180
Ireland Ireland
25898
Lithuania Lithuania
1
Mongolia Mongolia
1
Singapore Singapore
1
Ukraine Ukraine
7496788
United Kingdom United Kingdom
667380
United States United States
13659604
Unknown Country Unknown Country
1333972

Downloads

China China
13659605
France France
2
Germany Germany
2
Lithuania Lithuania
1
Russia Russia
3
Singapore Singapore
1
Ukraine Ukraine
7496789
United Kingdom United Kingdom
785
United States United States
7496788
Unknown Country Unknown Country
4

Files

File Size Format Downloads
Diadura_metrology.pdf 290.01 kB Adobe PDF 28653980

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.