Аналіз елементного складу плівок Pb[1-x]Sn[x]S методами PIXE та m-PIXE
No Thumbnail Available
Date
2014
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Сумський державний університет
Theses
Date of Defense
Scientific Director
Speciality
Date of Presentation
Abstract
У даній роботі вивчалися плівки Pb1-xSnxS, отримані термічним випаровуванням у вакуумі методом гарячої стінки на скляних підкладках. Для визначення елементного складу конденсатів використовувалося рентгенівське характеристичне випромінювання індуковане протонним пучком (методи PIXE, μ-PIXE). Відповідні дослідження проводилися на мікроаналітичному прискорювальному комплексі
«Сокіл» (ІПФ, Суми, Україна) з енергією пучка протонів 1,5 МеВ. Подальший аналіз спектрів PIXE здійснювався з використанням програми GUPIXWIN.
Keywords
плівки, пленки, film, напівпровідники, полупроводники, semiconductors
Citation
Аналіз елементного складу плівок Pb[1-x]Sn[x]S методами PIXE та m-PIXE [Текст] / О.В. Домнич, П.В. Коваль, А.С. Опанасюк та ін. // Фізика, електроніка, електротехніка : матеріали та програма науково-технічної конференції, м. Суми, 21-26 квітня 2014 р. / Відп. за вип. С.І. Проценко. - Суми : СумДУ, 2014. - С. 204.