Аналіз елементного складу плівок Pb[1-x]Sn[x]S методами PIXE та m-PIXE
| dc.contributor.author | Коваль, Павло Вікторович | |
| dc.contributor.author | Коваль, Павел Викторович | |
| dc.contributor.author | Koval, Pavlo Viktorovych | |
| dc.contributor.author | Опанасюк, Анатолій Сергійович | |
| dc.contributor.author | Опанасюк, Анатолий Сергеевич | |
| dc.contributor.author | Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych | |
| dc.contributor.author | Домнич, О.В. | |
| dc.contributor.author | Ташликов, І.С. | |
| dc.contributor.author | Пономарьов, Олександр Георгійович | |
| dc.contributor.author | Пономарев, Александр Георгиевич | |
| dc.contributor.author | Ponomarov, Oleksandr Heorhiiovych | |
| dc.date.accessioned | 2015-05-13T11:43:19Z | |
| dc.date.available | 2015-05-13T11:43:19Z | |
| dc.date.issued | 2014 | |
| dc.description.abstract | У даній роботі вивчалися плівки Pb1-xSnxS, отримані термічним випаровуванням у вакуумі методом гарячої стінки на скляних підкладках. Для визначення елементного складу конденсатів використовувалося рентгенівське характеристичне випромінювання індуковане протонним пучком (методи PIXE, μ-PIXE). Відповідні дослідження проводилися на мікроаналітичному прискорювальному комплексі «Сокіл» (ІПФ, Суми, Україна) з енергією пучка протонів 1,5 МеВ. Подальший аналіз спектрів PIXE здійснювався з використанням програми GUPIXWIN. | ru_RU |
| dc.identifier.citation | Аналіз елементного складу плівок Pb[1-x]Sn[x]S методами PIXE та m-PIXE [Текст] / О.В. Домнич, П.В. Коваль, А.С. Опанасюк та ін. // Фізика, електроніка, електротехніка : матеріали та програма науково-технічної конференції, м. Суми, 21-26 квітня 2014 р. / Відп. за вип. С.І. Проценко. - Суми : СумДУ, 2014. - С. 204. | ru_RU |
| dc.identifier.sici | 0000-0002-1888-3935 | en |
| dc.identifier.uri | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/40168 | |
| dc.language.iso | uk | ru_RU |
| dc.publisher | Сумський державний університет | ru_RU |
| dc.rights.uri | cne | en_US |
| dc.subject | плівки | ru_RU |
| dc.subject | пленки | ru_RU |
| dc.subject | film | ru_RU |
| dc.subject | напівпровідники | ru_RU |
| dc.subject | полупроводники | ru_RU |
| dc.subject | semiconductors | ru_RU |
| dc.title | Аналіз елементного складу плівок Pb[1-x]Sn[x]S методами PIXE та m-PIXE | ru_RU |
| dc.type | Theses | ru_RU |