Formation factors of stable nanocrystalline thin films
No Thumbnail Available
Files
Date
2003
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Institute for Single Crystals
Article
Date of Defense
Scientific Director
Speciality
Date of Presentation
Abstract
Анализируются экспериментальные данные о концентрации и температурной стабильности межзеренных границ и дефектов упаковки в тонких пленках металлов с некристаллической структурой. Сделан вывод, что образование этих дефектов в процессе конденсации уменьшает свободную энергию тонких пленок.
При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/22493
Experimental data on concentrations and temperature stability of intergrain boundaries and stacking faults in thin metal films of nanocrystalline structure are considered. The defect formation in the course of condensation has been concluded to decrease the thin film free energy. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/22493
Experimental data on concentrations and temperature stability of intergrain boundaries and stacking faults in thin metal films of nanocrystalline structure are considered. The defect formation in the course of condensation has been concluded to decrease the thin film free energy. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/22493
Keywords
Citation
Formation factors of stable nanocrystalline
thin films / P.A.Panchekha, A.G.Basov
// Functional Materials. — 2003. — Vol. 10, № 3. — Pp. 395-401.