Вплив технологічних факторів отримання на морфологію поверхні та електричні властивості плівок PbTe легованих Bi
No Thumbnail Available
Files
Date
2016
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Сумський державний університет
Article
Date of Defense
Scientific Director
Speciality
Date of Presentation
Abstract
Досліджено вплив технологічних факторів отримання: часу та температур випарника та підкладки на морфологію поверхні та електричні властивості осаджених з пари у вакуумі на підкладки з ситалу плівок PbTe легованого Bi. Використано атомно-силову мікроскопію, методи обробки зображення та холлівські дослідження. Проаналізовано вплив параметрів форми поверхневих кристалітів на рухливість вільних носіїв заряду.
Исследовано влияние технологических факторов получения: времени и температур испарителя и подложки на морфологию поверхности и электрические свойства осажденных из пары в вакууме на подложки из ситалла пленок PbTe легированного Bi. Использованы атомно-силовая микроскопия, методы обработки изображения и холловские исследования. Проанализировано влияние параметров формы поверхностных кристаллитов на подвижность свободных носителей заряда.
The influence of technological factors obtaining: time and temperature of the evaporator and the substrate on the surface morphology and electrical properties of the deposited from the vapor in a vacuum on a substrate of sital films PbTe doped Bi is researched. The atomic force microscopy, image processing methods and Hall research are used. The influence of the shape parameters of surface crystallites on the mobility of free charge carriers is analyzed.
Исследовано влияние технологических факторов получения: времени и температур испарителя и подложки на морфологию поверхности и электрические свойства осажденных из пары в вакууме на подложки из ситалла пленок PbTe легированного Bi. Использованы атомно-силовая микроскопия, методы обработки изображения и холловские исследования. Проанализировано влияние параметров формы поверхностных кристаллитов на подвижность свободных носителей заряда.
The influence of technological factors obtaining: time and temperature of the evaporator and the substrate on the surface morphology and electrical properties of the deposited from the vapor in a vacuum on a substrate of sital films PbTe doped Bi is researched. The atomic force microscopy, image processing methods and Hall research are used. The influence of the shape parameters of surface crystallites on the mobility of free charge carriers is analyzed.
Keywords
Телурид свинцю, Легування, Тонкі плівки, Розсіювання, Поверхня, Теллурид свинца, Легирование, Тонкие пленки, Рассеивание, Поверхность, Lead telluride, Doping, Thin films, Scattering, Surface
Citation
Я.П. Салій, Б.С. Дзундза, І.С. Биліна, О.Б. Костюк, Ж. нано- електрон. фіз. 8 № 2, 02045 (2016)