Відображення результатів від 1 до 1 із 1
Рік випуску | Назва | Автор(и) | Тип | Переглядів | Завантажено |
---|---|---|---|---|---|
2011 | Layered semiconductor InSe as a standard nanorelief in the metrology of nanoobjects | Dmitriev, A.I. | Conference Papers | 12238319 | 14546714 |