Показаны результаты 1 - 1 из 1
| Год выпуска | Название | Автор(ы) | Тип | Просмотров | Загружено |
|---|---|---|---|---|---|
| 2019 | BSIM3v3 Characterization and Simulation of MOS Si1 – xGex Transistors with 130 nm Submicron Technology | Hebali, M.; Bennaoum, M.; Benzohra, M.; Chalabi, D.; Saïdane, A. | Article | 26504548 | 2737609 |