Просмотр по ключевому слову технологічний метод


Показаны результаты 1 - 1 из 1
Год выпуска Название Автор(ы) Тип Просмотров Загружено
2017 Формирование внутренних дефектов в p-n структурах SiC для перспективных источников одиночных фотонов Краснов, В.А.; Ерохин, С.Ю.; Деменский, А.Н. Conference Papers 9431522 1634665