Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics)
Permanent URI for this collectionhttps://devessuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/197
Browse
2 results
Search Results
Item Особенности решения обратной задачи в спектроэллипсометрических исследованиях(Издательство СумГУ, 2004) Карпуша, Василий Данилович; Швец, Ульяна Станиславовна; Швець, Уляна Станіславівна; Shvets, Uliana Stanislavivna; Karpusha, Vasyl Danylovych; Карпуша, Василь ДаниловичIn the present paper the possibility of application of spectral ellipsometry method for determination of parameters of near-surface layers amorphous metallic alloys is analysed. The selection criterion of incorrect solutions of inverse ellipsometry task is suggested which is based on the evaluation of the maximal caused by an error of the method deviation determined parameters. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/997Item Решение обратной задачи эллипсометрии оптимизационными методами(Издательство СумГУ, 2005) Швец, Ульяна Станиславовна; Shvets, Uliana Stanislavivna; Швець, Уляна СтаніславівнаВ настоящей статье проанализированы существующие методы решения обратной задачи эллипсометрии. Рассмотрены проблемы, возникающие при решении данного рода задач. Указаны области применения каждого из них, а также их преимущества и недостатки. Выполнены численные моделирования тестовых задач, основанные на минимизации функционалов. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/698