Investigation of the self-similar structure of the carbon thin films

Borysiuk, Vadym Mykolaiovych

Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/20616

Використовуйте наступні посилання для розповсюдження матеріалу в соціальних мережах: Рекомендувати цей матеріал

Назва	Investigation of the self-similar structure of the carbon thin films
Автори	Борисюк, Вадим Миколайович
ORCID
Ключові слова	self-similarity самоподобие самоподібність carbon thin films углеродные тонкие пленки вуглецеві плівки
Вид документа	Тези доповідей
Дати випуску	2011
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу)	http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/20616
Видавець	Видавництво СумДУ
Ліцензія
Бібліографічний опис	Borisyuk, V.N. Investigation of the self-similar structure of the carbon thin films [Текст] / V.N. Borisyuk // Nanomaterials: applications & properties. Proceedings : 1-st International conference, Alushta, Crimea, 27-30 Semptember 2011 / Edited by: A. Pogrebnjak, T. Lyutyy, S. Protsenko. — Sumy : Sumy State University, 2011. — V.1, P.ІІ. — C. 317-319.
Короткий огляд (реферат)	Self-similar structure of the carbon thin films, obtained by magnetron sputtering is investigated numerically. Statistical parameters are calculated within two dimensional multifractal detrended fluctuation analysis. The numerical model for the surfaces under investigation was build from the SEM images of the carbon thin films. It is shown that the self-similarity in surface roughness preserves over all fragments of the sample, and through different resolutions of the SEM images. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/20616
Розташовується у зібраннях:	Наукові видання (ЕлІТ)