Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/22936
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title Ellipsometric investigations of influence of parameters of heterogeneous layers on their optical properties
Authors Shvets, Uliana Stanislavivna
Karpusha, Vasyl Danylovych
Keywords
Type Conference Papers
Date of Issue 2004
URI http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/22936
Publisher Видавництво СумДУ
License
Citation Shvets, U.S. Ellipsometric investigations of influence of parameters of heterogeneous layers on their optical properties [Текст] / U.S. Shvets, V.D. Karpusha // Матеріали науково-теоретичної конференції викладачів, аспірантів, співробітників та студентів гуманітарного факультету : 14-28 квітня 2004 р. - Суми : СумДУ, 2004. - С. 77-78.
Abstract
Appears in Collections: Наукові видання (ЕлІТ)

Views

China China
8321610
France France
153517
Germany Germany
8362
Iran Iran
1
Netherlands Netherlands
153519
Russia Russia
20
Spain Spain
1
Turkey Turkey
2
Ukraine Ukraine
3955
United Kingdom United Kingdom
1725720
United States United States
153521
Unknown Country Unknown Country
18841836

Downloads

China China
4
France France
2
Germany Germany
341
Ukraine Ukraine
3462
United Kingdom United Kingdom
1
Unknown Country Unknown Country
189

Files

File Size Format Downloads
34.pdf 400,95 kB Adobe PDF 3999

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.