Raman investigation on ZnS, ZnSe, ZnTe thin films obtained by CSVS technique

Abstract

У цій роботі були досліджені спектри комбінаційного розсіювання в тонких напівпровідникових плівках сульфіду цинку, селеніду цинку і телуриду цинку, нанесених за допомогою методу вакуумної сублімації в квазізамкнутом об'ємі. Всі плівки показали поздовжні оптичні репліки фононної моди. Зміна температури підкладки в результаті призвела до невеликим зміщень фононних частот в ZnSe і ZnTe, але не в тонких плівок ZnS. При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/29350

В этой работе были исследованы спектры комбинационного рассеяния в тонких полупроводниковых пленках сульфида цинка, селенида цинка и теллурида цинка, нанесенных с помощью метода вакуумной сублимации в квазизамкнутом обьеме. Все пленки показали продольные оптические реплики фононной моды. Изменение температуры подложки в результате привело к небольшим сдвигам фононных частот в ZnSe и ZnTe, но не в тонких пленок ZnS. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/29350

In this work, Raman spectra of zinc sulfide, zinc selenide, and zinc telluride thin film semiconductors deposited by the close-spaced vacuum sublimation technique were investigated. All of the films showed longitudinal optical phonon mode replicas. Varying the substrate temperature results in small shifts of the phonon frequencies in ZnSe and ZnTe, but not in ZnS thin films. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/29350