Rutherford backscattering and X-ray difraction analysis of Ag/ZnS/glass multilayer system

Балог, А. Г.; Балог, А. Г.; Balogh, A. G.; Дуванов, С. І.; Дуванов, С. И.; Duvanov, S. I.; Kurbatov, Denys Ihorovych; Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych

Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/30131

Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item

Title	Rutherford backscattering and X-ray difraction analysis of Ag/ZnS/glass multilayer system
Other Titles	Дослідження елементарного складу та структури багатошарової системи Ag/ZnS/скло Исследование элементного состава и структуры многослойной системы Ag/ZnS/стекло
Authors	Балог, А. Г. Балог, А. Г. Balogh, A. G. Дуванов, С. І. Дуванов, С. И. Duvanov, S. I. Kurbatov, Denys Ihorovych Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych
ORCID	http://orcid.org/0000-0002-2754-6367 http://orcid.org/0000-0002-1888-3935
Keywords
Type	Article
Date of Issue	2008
URI	http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/30131
Publisher	Одеса «Астропринт»
License
Citation	Balogh A. G. Rutherford backscattering and X-ray difraction analysis of Ag/ZnS/glass multilayer system [Текст] / A. G. Balogh, S. I. Duvanov, D. I. Kurbatov, A.S. Opanasyuk // Photoelectronics. – 2008. – № 17. – P. 136-141.
Abstract	В роботі проведене дослідження профілів розподілу елементів за товщиною, структурних властивостей та шорсткості поверхні плівок ZnS в багатошаровій системі Ag/ZnS/скло. Шари сульфіду цинку в системі були отримані методом вакуумної сублімації в замкнутому об’ємі при різних температурах конденсації. При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/30131 В работе проведено изучение профилей распределении элементов по толщине, структурных свойств и шероховатости поверхности для пленок ZnS в многослойной пленочной системе Ag/ZnS/стекло. Пленки сульфида цинка в системе были получены методом вакуумной сублимации в замкнутом объеме при разных температурах конденсации. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/30131 Experimental results on the study of the element depth profiles, structural and rough ness properties of Ag/ZnS/glass multilayer system are repoted. The ZnS films in this system were obtained by close-spaced vacuum sublimation method (CVCS) under different substrate temperature. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/30131
Appears in Collections:	Наукові видання (ЕлІТ)