Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/3531
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title Розмірні кінетичні ефекти у полікристалічних плівках
Authors Basov, Andrii Hennadiiovych
Dehtiaruk, Leonid Vasylovych
Шкурдода, Ю.О.
Chornous, Anatolii Mykolaiovych  
Басов, Андрей Геннадьевич
Keywords полікристалічна плівка
електрофізичні властивості
кінетичні коефіцієнти
поликристаллическая пленка
электрофизические свойства
кинетические коэффициенты
pollykrystalline film
electrical properties
kinetic coefficients
Type
Date of Issue 2010
URI http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/3531
Publisher Вид-во СумДУ
License
Citation Розмірні кінетичні ефекти у полікристалічних плівках [Текст] / А.Г. Басов, Л.В. Дехтярук, Ю.О. Шкурдода, А.М. Чорноус // Журнал нано- та електронної фізики. - 2010. - Т.2, №2. - С.6-24.
Abstract У роботі наведені результати як теоретичних, так і експериментальних досліджень електрофізичних властивостей (питомої провідності та температурного коефіцієнту опору), які характеризують електронний транспорт у металевих полікристалічних плівках. Показано, що числові значення зазначених кінетичних коефіцієнтів у тонких провідниках суттєво відрізняються від відповідних транспортних коефіцієнтів у масивних провідниках. Причина цієї відмінності полягає у тому, що у тонких полікристалічних плівках одночасно реалізується як внутрішній розмірний ефект (релаксація носіїв заряду на міжкристалітних межах), так і зовнішній розмірний ефект (розсіяння електронів на зовнішніх межах зразка), що призводить до суттєвої залежності кінетичних коефіцієнтів від внутрішньої структури, товщини та ступеня шорсткостей зовнішніх меж провідника. Розглянуті моделі розмірних ефектів використані для аналізу транспортних ефектів в полікристалічних плівках, а наведені асимптотичні вирази для розрахунку параметрів електроперенесення у моноблочних плівках Al i Ni. Показано, що узгодження експериментальних і розрахункових значень питомої провідності і ТКО у кожному конкретному випадку досягається при використанні коефіцієнта зерномежового розсіювання, як підгоночного параметра. Значення цього коефіцієнта складає: при розрахунках питомої провідності 0,37÷0,46 (плівки Ni) і 0,09÷0,30 (плівки Al) та при розрахунках ТКО 0,37÷0,40 (плівки Ni) і 0,15÷0,36 (плівки Al). При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/3531
The theoretical and experimental studies of electrophysical properties (conductivity and temperature coefficient of resistance) of metal films with a polycrystalline structure are performed in this paper. It is shown, that the numerical values of these kinetic coefficients in thin conductors are essentially different from the corresponding transport coefficients in thick samples. The reason of this difference lies in the simultaneous realization in thin polycrystalline films both of the internal size effects (relaxation of charge carries at the grain boundaries) and the external size effects (electron scattering at the outer boundaries of the sample). As a result, the kinetic coefficients essentially depend on the internal structure, thickness, and degrees of surface roughness of the conductor. The size effects considered in the review are used to analyze the transport effects in polycrystalline films, and the given asymptotic expressions are used to calculate the electron transport parameters in Al and Ni monoblock films. Shown, that agreement between the experimental and theoretical values of conductivity and temperature coefficient of resistance in each specific case is achieved by using the grain-boundary scattering coeeficient as the adjusted parameter. The value of this coefficient is: 0,37 􀁹 0,46 (Ni films) and 0,09 􀁹 0,3 (Al films) while calculating the conductivity, and 0,37 􀁹 0,40 (Ni films) and 0,15 􀁹 0,36 (Al films) while calculating the temperature coefficient of resistance. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/3531
Appears in Collections: Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics)

Views

Bulgaria Bulgaria
1
China China
469
France France
1
Germany Germany
470
Morocco Morocco
1
Netherlands Netherlands
2
Pakistan Pakistan
1
Romania Romania
1
Russia Russia
17
Slovakia Slovakia
1
Spain Spain
1
Taiwan Taiwan
1
Turkey Turkey
2
Ukraine Ukraine
4454
United Kingdom United Kingdom
5
United States United States
40
Unknown Country Unknown Country
83

Downloads

China China
5
France France
2
Germany Germany
471
Poland Poland
17
Russia Russia
1
Ukraine Ukraine
3359
United States United States
2
Unknown Country Unknown Country
403

Files

File Size Format Downloads
jnep_2010_V2_N2_06-24.pdf 448,39 kB Adobe PDF 4260

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.