Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/35649
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title Розрахунок реальних розмірів наночастинок за АСМ зображеннями та моделювання їх магнітооптичних властивостей
Other Titles Determination of the Nanoparticle Sizes Using AFM Images and Simulation of their Magnetooptical Properties
Расчет реальных размеров наночастиц по АСМ изображениям и моделирование их магнитооптических свойств
Authors Zlenko, Vitalii Oleksandrovych
Demydenko, Maksym Hennadiiovych
Protsenko, Serhii Ivanovych  
ORCID http://orcid.org/0000-0002-8070-1610
Keywords Атомно-силова мікроскопія
МОКЕ
Масив наночастинок
Массив наночастиц
Атомно-силовая микроскопия
Atomic-force microscopy
Nanoparticle array
Type Article
Date of Issue 2013
URI http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/35649
Publisher Сумський державний університет
License
Citation Зленко, В.О. Розрахунок реальних розмірів наночастинок за АСМ зображеннями та моделювання їх магнітооптичних властивостей [Текст] / В.О. Зленко, М.Г. Демиденко, С.І. Проценко // Журнал нано- та електронної фізики. - 2013. - Т.5, №3, Ч.ІІ. - 03055.
Abstract В роботі описані геометричні та наведені результати розрахунку реальних розмірів наночастинок Ni і Co за даними атомно-силової мікроскопії, які були отримані методом термічного диспергування тонких металевих плівок на аморфних Si3N4 / Si. Результати розрахунків були використані при моделюванні магнітооптичних властивостей масивів НЧ. Показано, що оброблені за описаними в роботі співвідношеннями моделі масивів НЧ дозволяють отримати добре співпадіння між розрахунковими та отриманими експериментально методом МОКЕ даними. При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/35649
В работе описаны геометрические модели и приведены результаты расчета реальных размеров НЧ Ni и Co на аморфных Si3N4 / Si подложках, полученых методом термодиспергирования тонких ме- таллических пленок, по данным атомно-силовой микроскопии. Результаты расчетов были использо- ваны при моделировании магнито-оптических свойств массивов НЧ. Показано, что обработанные по описанным в работе соотношениям модели массивов НЧ позволяют получить хорошее совпадение между расчетными и полученными экспериментально методом МОКЕ данными. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/35649
This paper describes the geometric models and presents the calculation results of the actual sizes of Ni and Co nanoparticles on the amorphous Si3N4 / Si substrates obtained by thermal annealing of thin metal films using the data of atomic force microscopy. Results were used in the simulation of magneto-optical properties of arrays of nanoparticles. It is shown that processed by described in the paper equations models allow to obtain a good agreement between calculated and experimentally obtained by MOKE method data. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/35649
Appears in Collections: Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics)

Views

Australia Australia
1
Brazil Brazil
1
China China
4
France France
1
Germany Germany
5
Greece Greece
1
Ireland Ireland
117847
Italy Italy
1
Japan Japan
1
Lithuania Lithuania
1
Netherlands Netherlands
2
Romania Romania
1
Russia Russia
9
Sweden Sweden
1
Turkey Turkey
3
Ukraine Ukraine
781458
United Kingdom United Kingdom
392897
United States United States
16659350
Unknown Country Unknown Country
781457

Downloads

China China
12
France France
1
Germany Germany
2
Lithuania Lithuania
1
Russia Russia
2
Switzerland Switzerland
1
Ukraine Ukraine
14585657
United Kingdom United Kingdom
1
United States United States
16659351
Unknown Country Unknown Country
32

Files

File Size Format Downloads
Zlenko_Atomic-force microscopy.pdf 913.09 kB Adobe PDF 31245060

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.