Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/3603
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title Morfological and structural characteristics of II–VI semiconductor thin films (ZnTe,CdTe,ZnS)
Authors Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych  
Kurbatov, Denys Ihorovych  
Kosiak, Volodymyr Volodymyrovych
Kolesnyk, Maksym Mykolaiovych
Danylchenko, Serhii Mykolaiovych
Keywords II-VI полупроводниковые соединения
тонкие пленки
кристаллическая структура
дефекты кристаллической решетки
рентгеновская дифракция
замкнутое пространство сублимации
II-VI напівпровідникові з`єднання
тонкі плівки
кристалічна структура
дефекти кристалічної решітки
рентгенівська дифракція
замкнутий простір сублімації
II-VI semiconductor compounds
thin films
crystal structure
lattice defects
x-ray diffraction
closed space sublimation
Type Article
Date of Issue 2008
URI http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/3603
Publisher Publisher Taylor & Francis Group
License
Citation Morfological and structural characteristics of II–VI semiconductor thin films (ZnTe,CdTe,ZnS) /A.A. Opanasyuk, D.I. Kurbatov, V.V. Kosyak at all. // Integrated Ferroelectrics — 2009. —103. — С. 32-40.
Abstract Були досліджені морфологія поверхні і мікроструктурні характеристики тонких плівок ZnTe, CdTe і ZnS, отриманих методом квазі-замкнутого обєму. Структурні особливості шарів були розглянуті методами XRD, SEM і оптичної мікроскопії. Розмір областей когерентного розсіювання, решітки мікродеформації і концентрація дефектів зсуву були оцінені з рентгенівського дифракційного розширення. Проведені дослідження показують вплив умов одержання на основні структурні характеристики тонких плівок ZnTe, CdTe і ZnS. При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/3603
Были исследованы морфология поверхности и микроструктурные характеристики тонких пленок ZnTe, CdTe и ZnS, полученных методом квази-замкнутого объема. Структурные особенности слоев были рассмотрены методами XRD, SEM и оптической микроскопией. Размер областей когерентного рассеяния, решетки микродеформации и концентрация дефектов сдвига были оценены из рентгеновского дифракционного уширения. Проведенные исследования показывают влияние условий получения на основные структурные характеристики тонких пленок ZnTe, CdTe и ZnS. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/3603
The surface morphology and microstructural characteristic of ZnTe, CdTe and ZnS thin films obtained by close-spaced sublimation technique were investigated. The structural features of layers were examined by XRD, SEM and optical microscopy. Size of coherent scattering regions, lattice microstrain and stacking fault defect concentration were estimated from X-ray diffraction line broadening. The investigation performed elucidates effect of preparation conditions on main structural characteristics of ZnTe, CdTe and ZnS thin films When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/3603
Appears in Collections: Наукові видання (ЕлІТ)

Views

Belarus Belarus
1
Brazil Brazil
2
China China
10
Czech Republic Czech Republic
2
EU EU
1
Finland Finland
1
France France
3
Germany Germany
646
Iran Iran
1
Israel Israel
1
Italy Italy
1
Netherlands Netherlands
2
Pakistan Pakistan
1
Poland Poland
1
Romania Romania
3
Russia Russia
20
Slovakia Slovakia
1
Spain Spain
1
Turkey Turkey
3
Ukraine Ukraine
12279
United Kingdom United Kingdom
1569
United States United States
644
Unknown Country Unknown Country
130
Vietnam Vietnam
1

Downloads

Algeria Algeria
17
Argentina Argentina
1
Austria Austria
1
Belgium Belgium
4
Brazil Brazil
3
Canada Canada
4
China China
28
Egypt Egypt
13
Ethiopia Ethiopia
1
France France
1
Germany Germany
647
Greece Greece
1
Hong Kong Hong Kong
3
India India
38
Indonesia Indonesia
3
Iran Iran
2
Iraq Iraq
5
Israel Israel
1
Japan Japan
22
Kenya Kenya
1
Kuwait Kuwait
1
Macedonia Macedonia
1
Malaysia Malaysia
3
Mexico Mexico
8
Moldova Moldova
2
Morocco Morocco
3
Nepal Nepal
6
Netherlands Netherlands
2
Nigeria Nigeria
11
Pakistan Pakistan
8
Philippines Philippines
1
Poland Poland
2
Romania Romania
1
Russia Russia
10
Saudi Arabia Saudi Arabia
1
Singapore Singapore
2
South Africa South Africa
1
South Korea South Korea
11
Spain Spain
2
Sri Lanka Sri Lanka
2
Sweden Sweden
1
Syria Syria
2
Taiwan Taiwan
2
Thailand Thailand
2
Tunisia Tunisia
2
Turkey Turkey
2
Ukraine Ukraine
12280
United Kingdom United Kingdom
1568
United States United States
645
Unknown Country Unknown Country
1951
Venezuela Venezuela
1
Vietnam Vietnam
1

Files

File Size Format Downloads
ThinFilms.pdf 943,86 kB Adobe PDF 17331

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.