Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/3603
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title Morfological and structural characteristics of II–VI semiconductor thin films (ZnTe,CdTe,ZnS)
Authors Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych  
Kurbatov, Denys Ihorovych  
Kosiak, Volodymyr Volodymyrovych
Kolesnyk, Maksym Mykolaiovych  
Danylchenko, Serhii Mykolaiovych
ORCID http://orcid.org/0000-0002-1888-3935
http://orcid.org/0000-0002-2754-6367
http://orcid.org/0000-0003-2019-8387
Keywords II-VI полупроводниковые соединения
тонкие пленки
кристаллическая структура
дефекты кристаллической решетки
рентгеновская дифракция
замкнутое пространство сублимации
II-VI напівпровідникові з`єднання
тонкі плівки
кристалічна структура
дефекти кристалічної решітки
рентгенівська дифракція
замкнутий простір сублімації
II-VI semiconductor compounds
thin films
crystal structure
lattice defects
x-ray diffraction
closed space sublimation
Type Article
Date of Issue 2008
URI http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/3603
Publisher Publisher Taylor & Francis Group
License
Citation Morfological and structural characteristics of II–VI semiconductor thin films (ZnTe,CdTe,ZnS) /A.A. Opanasyuk, D.I. Kurbatov, V.V. Kosyak at all. // Integrated Ferroelectrics — 2009. —103. — С. 32-40.
Abstract Були досліджені морфологія поверхні і мікроструктурні характеристики тонких плівок ZnTe, CdTe і ZnS, отриманих методом квазі-замкнутого обєму. Структурні особливості шарів були розглянуті методами XRD, SEM і оптичної мікроскопії. Розмір областей когерентного розсіювання, решітки мікродеформації і концентрація дефектів зсуву були оцінені з рентгенівського дифракційного розширення. Проведені дослідження показують вплив умов одержання на основні структурні характеристики тонких плівок ZnTe, CdTe і ZnS. При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/3603
Были исследованы морфология поверхности и микроструктурные характеристики тонких пленок ZnTe, CdTe и ZnS, полученных методом квази-замкнутого объема. Структурные особенности слоев были рассмотрены методами XRD, SEM и оптической микроскопией. Размер областей когерентного рассеяния, решетки микродеформации и концентрация дефектов сдвига были оценены из рентгеновского дифракционного уширения. Проведенные исследования показывают влияние условий получения на основные структурные характеристики тонких пленок ZnTe, CdTe и ZnS. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/3603
The surface morphology and microstructural characteristic of ZnTe, CdTe and ZnS thin films obtained by close-spaced sublimation technique were investigated. The structural features of layers were examined by XRD, SEM and optical microscopy. Size of coherent scattering regions, lattice microstrain and stacking fault defect concentration were estimated from X-ray diffraction line broadening. The investigation performed elucidates effect of preparation conditions on main structural characteristics of ZnTe, CdTe and ZnS thin films When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/3603
Appears in Collections: Наукові видання (ЕлІТ)

Views

Belarus Belarus
1
Brazil Brazil
2
China China
1267373628
Czechia Czechia
658594005
EU EU
1
Finland Finland
1
France France
3
Germany Germany
1267373627
Greece Greece
802930
India India
1
Iran Iran
1
Ireland Ireland
16401916
Israel Israel
1
Italy Italy
1
Japan Japan
1
Lithuania Lithuania
1
Netherlands Netherlands
2
Pakistan Pakistan
1
Poland Poland
1
Romania Romania
3
Russia Russia
20
Singapore Singapore
1
Slovakia Slovakia
1
Spain Spain
1
Sweden Sweden
1
Turkey Turkey
3
Ukraine Ukraine
1317188011
United Kingdom United Kingdom
1478834182
United States United States
-695459741
Unknown Country Unknown Country
1016944374
Vietnam Vietnam
802933

Downloads

Algeria Algeria
17
Argentina Argentina
1
Australia Australia
1
Austria Austria
1
Belgium Belgium
4
Brazil Brazil
3
Canada Canada
802926
China China
-1537704804
Egypt Egypt
13
Ethiopia Ethiopia
1
France France
550013502
Germany Germany
859620394
Greece Greece
802931
Hong Kong SAR China Hong Kong SAR China
-695459743
Hungary Hungary
8602421
India India
4702671
Indonesia Indonesia
3
Iran Iran
2
Iraq Iraq
5
Ireland Ireland
1478834183
Israel Israel
1
Japan Japan
-695459742
Kenya Kenya
1
Kuwait Kuwait
1
Lithuania Lithuania
1044858381
Malaysia Malaysia
3
Mexico Mexico
8
Moldova Moldova
2
Morocco Morocco
3
Nepal Nepal
6
Netherlands Netherlands
2
Nigeria Nigeria
11
North Macedonia North Macedonia
1
Pakistan Pakistan
8
Philippines Philippines
1
Poland Poland
2
Romania Romania
1
Russia Russia
10
Saudi Arabia Saudi Arabia
1
Singapore Singapore
1887103429
South Africa South Africa
1
South Korea South Korea
11
Spain Spain
2
Sri Lanka Sri Lanka
2
Sweden Sweden
1
Switzerland Switzerland
1
Syria Syria
2
Taiwan Taiwan
2
Thailand Thailand
75809
Tunisia Tunisia
2
Turkey Turkey
2
Ukraine Ukraine
197490
United Kingdom United Kingdom
1478834180
United States United States
-695459751
Unknown Country Unknown Country
1951
Venezuela Venezuela
1
Vietnam Vietnam
10552293

Files

File Size Format Downloads
ThinFilms.pdf 943.86 kB Adobe PDF -594048635

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.