Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/39069
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title Диагностика реконструкции поверхности золота методами многоугловой эллипсометрии
Other Titles Gold Surface Reconstruction Diagnostics by the Multiangular Ellipsometry Methods
Діагностика реконструкції поверхні золота методами багатокутові еліпсометрії
Authors Голобородько, А.А.
Крылов, А.В.
Робур, Л.И.
Keywords Анизотропная среда
Матрица Мюллера
Коэффициент отражения
Анізотропне середовище
Матриця Мюллера
Коефіцієнт відбиття
Anisotropic medium
Mueller matrix
Reflection coefficient
Type Article
Date of Issue 2015
URI http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/39069
Publisher Сумский государственный университет
License
Citation А.О. Голобородько, O.В. Крилов, Л.Й. Робур, Ж. нано- електрон. фіз. 7 № 1, 01025 (2015)
Abstract У роботі розглядаються зміна структури та оптичних властивостей плівок золота. Експериментально показано, що зміни структури поверхні достовірно фіксуються методами багатокутової Мюллерполяриметрії. Проаналізовано вплив поверхні плівки золота на параметри моделі анізотропного середовища. Показано, що для достовірної класифікації плівок досить проводити вимірювання при куті, при якому різниця в параметрах анізотропії максимальна.
В работе рассматриваются изменения структуры и оптических свойств пленок золота. Экспериментально показано, что изменения структуры поверхности достоверно фиксируются методами многоугловой Мюллер-поляриметрии. Проанализировано влияние поверхности пленки золота на параметры модели анизотропной среды. Показано, что для достоверной классификации пленок достаточно проводить измерения при угле, при котором разница в параметрах анизотропии максимальна.
The paper deals with gold films structure and optical properties changes. It is experimentally shown that the surface structure changes are reliably detected by the multiangular Mueller polarimetry method. The influence of the gold film surface on the anisotropic medium model parameters is discussed. It is shown that for reliable films classification it is sufficient to measure parameters of the anisotropic medium at an angle at which the difference in the anisotropy parameters is maximized.
Appears in Collections: Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics)

Views

Azerbaijan Azerbaijan
1
Canada Canada
1
China China
1
France France
2
Germany Germany
12
Greece Greece
1
Hungary Hungary
1
Lithuania Lithuania
1
Netherlands Netherlands
477
Ukraine Ukraine
208
United Kingdom United Kingdom
1906
United States United States
10715
Unknown Country Unknown Country
7

Downloads

Belarus Belarus
2
China China
49
Germany Germany
2
Italy Italy
1
Russia Russia
4
Ukraine Ukraine
182
United Kingdom United Kingdom
1
United States United States
8097
Unknown Country Unknown Country
5

Files

File Size Format Downloads
Goloborodko.pdf 4,13 MB Adobe PDF 8343

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.