Please use this identifier to cite or link to this item:
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/4009
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | LOW COST скануючий тунельний мікроскоп |
Authors |
Булатов, С.А.
Demydenko, Maksym Hennadiiovych |
ORCID | |
Keywords |
нанотехнології прецизійне обладнання нанотехнологии высокоточное оборудование nanotechnology precision equipment |
Type | Conference Papers |
Date of Issue | 2009 |
URI | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/4009 |
Publisher | Вид-во СумДУ |
License | |
Citation | Булатов, С.А. LOW COST скануючий тунельний мікроскоп [Текст] / С.А. Булатов, М.Г. Демиденко // Матеріали та програма науково-технічної конференції викладачів, співробітників, аспірантів і студентів факультету електроніки та інформаційних технологій : 21-24 квітня 2009 р. - Суми : СумДУ, 2009. - С. 61. |
Abstract | |
Appears in Collections: |
Наукові видання (ЕлІТ) |
Views
![Australia](/flags/au.gif)
1
![Canada](/flags/ca.gif)
1
![China](/flags/cn.gif)
-1388433891
![France](/flags/fr.gif)
2
![Germany](/flags/de.gif)
450158608
![Greece](/flags/gr.gif)
1
![Iceland](/flags/is.gif)
2
![Ireland](/flags/ie.gif)
47157025
![Japan](/flags/jp.gif)
1
![Lithuania](/flags/lt.gif)
1
![Netherlands](/flags/nl.gif)
52448
![Norway](/flags/no.gif)
1
![Pakistan](/flags/pk.gif)
1
![Poland](/flags/pl.gif)
1
![Russia](/flags/ru.gif)
56
![Singapore](/flags/sg.gif)
354376739
![Sweden](/flags/se.gif)
1
![Turkey](/flags/tr.gif)
12
![Ukraine](/flags/ua.gif)
177213311
![United Kingdom](/flags/gb.gif)
1987184408
![United States](/flags/us.gif)
1518099506
![Unknown Country](/flags/--.gif)
183947
![Vietnam](/flags/vn.gif)
209787
Downloads
![China](/flags/cn.gif)
-1148765326
![Germany](/flags/de.gif)
-1148765326
![Ireland](/flags/ie.gif)
1
![Lithuania](/flags/lt.gif)
1
![Ukraine](/flags/ua.gif)
214391491
![United States](/flags/us.gif)
-1148765326
![Unknown Country](/flags/--.gif)
179
![Vietnam](/flags/vn.gif)
1
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
ElIT_2009.pdf | 3,56 MB | Adobe PDF | 1063062991 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.