Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/4009
Використовуйте наступні посилання для розповсюдження матеріалу в соціальних мережах: Рекомендувати цей матеріал
Назва LOW COST скануючий тунельний мікроскоп
Автори Булатов, С.А.
Демиденко, Максим Геннадійович
ORCID
Ключові слова нанотехнології
прецизійне обладнання
нанотехнологии
высокоточное оборудование
nanotechnology
precision equipment
Вид документа Тези доповідей
Дати випуску 2009
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу) http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/4009
Видавець Вид-во СумДУ
Ліцензія
Бібліографічний опис Булатов, С.А. LOW COST скануючий тунельний мікроскоп [Текст] / С.А. Булатов, М.Г. Демиденко // Матеріали та програма науково-технічної конференції викладачів, співробітників, аспірантів і студентів факультету електроніки та інформаційних технологій : 21-24 квітня 2009 р. - Суми : СумДУ, 2009. - С. 61.
Короткий огляд (реферат)
Розташовується у зібраннях: Наукові видання (ЕлІТ)

Views

Australia Australia
1
Canada Canada
1
China China
-1388433891
France France
-1148765325
Germany Germany
450158608
Greece Greece
1
Iceland Iceland
2
Ireland Ireland
47157025
Japan Japan
1
Lithuania Lithuania
1
Netherlands Netherlands
52448
Norway Norway
1
Pakistan Pakistan
1
Poland Poland
1
Russia Russia
56
Singapore Singapore
354376739
Sweden Sweden
1
Turkey Turkey
12
United Kingdom United Kingdom
1987184408
United States United States
1518099506
Unknown Country Unknown Country
183947
Vietnam Vietnam
209787
Україна Україна
177213311

Downloads

China China
-1148765326
Germany Germany
-1148765326
Ireland Ireland
1
Lithuania Lithuania
1
United States United States
1997436643
Unknown Country Unknown Country
179
Vietnam Vietnam
1
Україна Україна
214391491

Files

Файл Розмір Формат Downloads
ElIT_2009.pdf 3.56 MB Adobe PDF -85702336

Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.