Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/40168
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title Аналіз елементного складу плівок Pb[1-x]Sn[x]S методами PIXE та m-PIXE
Authors Koval, Pavlo Viktorovych
Коваль, Павел Викторович
Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych  
Домнич, О.В.
Ташликов, І.С.
Ponomarov, Oleksandr Heorhiiovych
Keywords плівки
пленки
film
напівпровідники
полупроводники
semiconductors
Type Conference Papers
Date of Issue 2014
URI http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/40168
Publisher Сумський державний університет
License
Citation Аналіз елементного складу плівок Pb[1-x]Sn[x]S методами PIXE та m-PIXE [Текст] / О.В. Домнич, П.В. Коваль, А.С. Опанасюк та ін. // Фізика, електроніка, електротехніка : матеріали та програма науково-технічної конференції, м. Суми, 21-26 квітня 2014 р. / Відп. за вип. С.І. Проценко. - Суми : СумДУ, 2014. - С. 204.
Abstract У даній роботі вивчалися плівки Pb1-xSnxS, отримані термічним випаровуванням у вакуумі методом гарячої стінки на скляних підкладках. Для визначення елементного складу конденсатів використовувалося рентгенівське характеристичне випромінювання індуковане протонним пучком (методи PIXE, μ-PIXE). Відповідні дослідження проводилися на мікроаналітичному прискорювальному комплексі «Сокіл» (ІПФ, Суми, Україна) з енергією пучка протонів 1,5 МеВ. Подальший аналіз спектрів PIXE здійснювався з використанням програми GUPIXWIN.
Appears in Collections: Наукові видання (ЕлІТ)

Views

Canada Canada
1
France France
3
Germany Germany
47
Russia Russia
1
Ukraine Ukraine
256
United Kingdom United Kingdom
1
United States United States
19
Unknown Country Unknown Country
9

Downloads

China China
3
France France
1
Germany Germany
2
Ukraine Ukraine
257
Unknown Country Unknown Country
3

Files

File Size Format Downloads
koval_semiconductors.pdf 168,05 kB Adobe PDF 266

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.