Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/40646
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title Ідентифікація зображень нано та мікро-структур досліджуваної поверхні за допомогою інформаційно-екстремальної інтелектуальної технології
Authors Zakaliuzhna, Nataliia Valeriivna
Keywords скануючий тунельний мікроскоп
сканирующий тунельный микроскоп
метод інформаційно-екстремальної інтелектуальної технології
метод информационно-экстримальной интелектуальной технологии
Type Conference Papers
Date of Issue 2015
URI http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/40646
Publisher Сумський державний університет
License
Citation Закалюжна, Н.В. Ідентифікація зображень нано та мікро-структур досліджуваної поверхні за допомогою інформаційно-екстремальної інтелектуальної технології [Текст] / Н.В. Закалюжна ; кер. І.В. Шелехов // Інформатика, математика, автоматика : матеріали та програма науково-технічної конференції, м. Суми, 20-25 квітня 2015 р. / Відп. за вип. С.І. Проценко. — Суми : СумДУ, 2015. — С. 57.
Abstract Розпізнавання та дослідження частинок кластерних матеріалів із застосуванням скануючого тунельного мікроскопа (СТМ) є важливим етапом при створенні нових перспективних матеріалів на їх основі. Оскільки СТМ дозволяє отримувати топографічні зображення поверх- ні постійного тунельного струму, то ідентифікація подібних СТМ- зображень досить ускладнена і вимагає залучення достовірних зобра- жень, побудованих теоретичним шляхом.
Appears in Collections: Наукові видання (ЕлІТ)

Views

Canada Canada
1
Germany Germany
4
Netherlands Netherlands
346
Ukraine Ukraine
151
United Kingdom United Kingdom
1379
United States United States
174
Unknown Country Unknown Country
11

Downloads

China China
2
Czechia Czechia
1
Germany Germany
2
Ukraine Ukraine
150
United Kingdom United Kingdom
1
Unknown Country Unknown Country
7

Files

File Size Format Downloads
zakalujna.pdf 260,01 kB Adobe PDF 163

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.