Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/40800
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title Розрахунок спектральних характеристик резонансно-тунельних структур на основі методу S-матриці
Authors Бабіч, А.В.
Коротун, А.В.
Keywords резонансно-тунельний діод
резонансно-туннельный диод
resonant tunneling diodes
моделювання
моделирование
modeling
резонансна енергія
резонансная энергия
resonance energy
чисельний розрахунок
численный расчет
numerical calculation
Type Conference Papers
Date of Issue 2015
URI http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/40800
Publisher Сумський державний університет
License
Citation Бабіч, А.В. Розрахунок спектральних характеристик резонансно-тунельних структур на основі методу S-матриці [Текст] / А.В. Бабіч, А.В. Коротун // Фізика, електроніка, електротехніка: матеріали та програма науково-технічної конференції, м. Суми, 20-25 квітня 2015 р. / Відп. за вип. С.І. Проценко. — Суми: СумДУ, 2015. — С. 106.
Abstract Інтерес до вивчення резонансно-тунельних структур зумовлений їх широким використанням у приладах твердотілої наноелектроніки. Зокрема, було продемонстроване застосування цих структур при створенні резонансно-тунельних діодів (РТД), цифро-аналогових перетворювачів, задаючих генераторів, регістрів зсуву та статичних запам’ятовуючих пристроїв із довільною вибіркою.
Appears in Collections: Наукові видання (ЕлІТ)

Views

Canada Canada
1
China China
3
Germany Germany
3
Italy Italy
1
Netherlands Netherlands
397
Russia Russia
1
Saudi Arabia Saudi Arabia
1
Ukraine Ukraine
179
United Kingdom United Kingdom
795
United States United States
199
Unknown Country Unknown Country
7

Downloads

China China
5
Germany Germany
2
Turkey Turkey
1
Ukraine Ukraine
1588
United Kingdom United Kingdom
1
United States United States
1
Unknown Country Unknown Country
6

Files

File Size Format Downloads
Babich_resonant tunneling diodes.pdf 286,74 kB Adobe PDF 1604

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.