Characterizations of Structural Properties of ZnO Thin Films Depending on the Experimental Conditions

Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/40814

Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item

Title	Characterizations of Structural Properties of ZnO Thin Films Depending on the Experimental Conditions
Authors	Kurbatov, Denys Ihorovych Klymov, Oleksii Volodymyrovych Ladnyi, D.O.
Keywords	тонкие пленки тонкі плівки thin film оксид цинка оксид цинку zinc oxide
Type	Conference Papers
Date of Issue	2015
URI	http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/40814
Publisher	Sumy State University
License
Citation	Klymov, O.V. Characterizations of Structural Properties of ZnO Thin Films Depending on the Experimental Conditions [Текст] / O.V. Klymov, D.O. Ladniy, D.I. Kurbatov // Фізика, електроніка, електротехніка: матеріали та програма науково-технічної конференції, м. Суми, 20-25 квітня 2015 р. / Відп. за вип. С.І. Проценко. — Суми: СумДУ, 2015. — С. 90.
Abstract	Zinc oxide (ZnO) is one of the most promising materials for the fabrication of optoelectronic devices operating in the blue and ultra-violet (UV) spectral regions, owing to its direct wide band gap (Eg ~3.37 eV) and large exciton binding energy (~60 meV).
Appears in Collections:	Наукові видання (ЕлІТ)