Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/40981
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title Дослідження наноплівок As[2]S[3] на Si і SiO[2] методом ЕФС
Authors Маркович, Л.М.
Лінтур, М.І.
Подгорецька, Г.Ю.
Keywords наноплівки
нанопленки
nanofilms
пучки електронів
пучки электронов
electron beams
термічне випаровування
термическое испарение
thermal evaporation
дослідження
исследование
research
Type Conference Papers
Date of Issue 2015
URI http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/40981
Publisher Сумський державний університет
License
Citation Маркович, Л.М. Дослідження наноплівок As[2]S[3] на Si і SiO[2] методом ЕФС [Текст] / Л.М. Маркович, М.І. Лінтур, Г.Ю. Подгорецька // Фізика, електроніка, електротехніка: матеріали та програма науково-технічної конференції, м. Суми, 20-25 квітня 2015 р. / Відп. за вип. С.І. Проценко. — Суми: СумДУ, 2015. — C. 138.
Abstract Поверхня відіграє визначну роль при функціонуванні мікро- або нанооб’єктів, а також при їх взаємодії з підкладинками, на які вони напорошені та з навколишнім середовищем. Тому дослідження поверхонь перспективних наноструктур різними методами є вкрай важливим для сучасної фізики, техніки і технології. Для зондування досліджуваних поверхонь широко застосовуються в наукових дослідженнях пучки електронів.
Appears in Collections: Наукові видання (ЕлІТ)

Views

Canada Canada
1
Germany Germany
4
Lithuania Lithuania
1
Netherlands Netherlands
401
Sweden Sweden
1
Ukraine Ukraine
181
United Kingdom United Kingdom
1601
United States United States
200
Unknown Country Unknown Country
11

Downloads

China China
2
Germany Germany
2
Lithuania Lithuania
1
Ukraine Ukraine
180
United Kingdom United Kingdom
1
Unknown Country Unknown Country
2

Files

File Size Format Downloads
Markovych_thermal evaporation.pdf 285,14 kB Adobe PDF 188

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.