Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/52324
Title: The surface morphology, structural properties and chemical composition of Cd1-xZnxTe polycrystalline thick films deposited by close spaced vacuum sublimation
Authors: Znamenshchykov, Yaroslav Volodymyrovych 
Kosiak, Volodymyr Volodymyrovych
Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych 
Ponomarov, А.А.
Romanenko, A.V.
Stanislavov, A.S.
Medvids, A.
Shpetnyi, Ihor Oleksandrovych
Gorobets, Yu.I.
Dauksta, E.
Keywords: потрійні напівпровідникові сполуки
тройные полупроводниковые соединения
semiconducting ternary compounds
рентгенівська дифракція
рентгеновская дифракция
X-ray diffraction
кристалічна структура
кристаллическая структура
crystal structure
осадження полікристалів
осаждение поликристаллов
polycrystalline deposition
тверді розчини
твердые растворы
solid solutions
Issue Year: 2017
Publisher: Elsevier
Citation: The surface morphology, structural properties and chemical composition of Cd1−xZnxTe polycrystalline thick films deposited by close spaced vacuum sublimation / Y.V. Znamenshchykov, V.V. Kosyak, A.S. Opanasyuk [et al.] // Materials Science in Semiconductor Processing. - 2017. - Vol. 63. - P. 64-73.
Abstract: Тонкі полікристалічні плівки Cd1-xZnxTe з х варіювалися від 0,37 до 0,80 були отримані метод вакуумної сублімація з близькою відстанню. Для дослідження властивостей структурних властивостей були проведені дослідження PIXE і Раман. Визначення хімічного складу плівок за допомогою EDS, PIXE і XRD показало гарне співвідношення результатів. Раман-спектроскопія виявляє зв'язок між концентрацією цинку і коливальними властивостями плівок. Дослідження просторового розподілу хімічних елементів на поверхні плівки за допомогою мікропіксела і мікрорамановской спектроскопії показали, що плівки однорідні і не містять вторинних фаз, таких як CdTe, ZnTe і Те
Тонкие поликристаллические пленки Cd1-xZnxTe с x варьировались от 0,37 до 0,80 были получены методом вакуумного сублимации с близким расстоянием. Для исследования свойств структурных структур были проведены исследования PIXE и Raman. Определение химического состава пленок с помощью EDS, PIXE и XRD показало хорошее соотношение результатов. Рамановская спектроскопия выявляет связь между концентрацией цинка и колебательными свойствами пленок. Исследования пространственного распределения химических элементов на поверхности пленки с помощью микропиксела и микрорамановской спектроскопии показали, что пленки однородны и не содержат вторичных фаз, таких как CdTe, ZnTe и Te.
Thick polycrystalline Cd1−xZnxTe films with x ranged from 0.37 to 0.80 were obtained by the close spaced vacuum sublimation method. In order to investigate properties of the films structural, PIXE and Raman studies were carried out. Determination of chemical composition of the films by EDS, PIXE and XRD has shown good correlation of results. Raman spectroscopy reveals the relation between zinc concentration and vibrational properties of the films. Studies of the spatial distribution of the chemical elements on the film surface by microPIXE and micro-Raman spectroscopy have shown that films are uniform and free of secondary phases such as CdTe, ZnTe and Te inclusions.
URI: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/52324
Type: Article
Appears in Collections:Наукові видання (ЕлІТ)

Views
Other49
China2
Czech Republic1
Germany3
EU1
France1
United Kingdom4
Italy2
Netherlands1
Russia1
Singapore2
Turkey2
Ukraine9
United States54
Downloads
Other67
China25
Germany2
South Korea1
Netherlands1
Ukraine13
United States6


Files in This Item:
File Description SizeFormatDownloads 
znamenshchykov_solid_solutions.pdfОсновная статья1.61 MBAdobe PDF115Download


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.