Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/65987
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title Purification of the Cd(Mn)Te For X-ray Detector Crystals by Special Annealing
Other Titles Очистка кристаллов Cd(Mn)Te для детекторов рентгеновского излучения специальным отжигом
Очистка кристалів Cd(Mn)Te для детекторів рентгенівського випромінювання спеціальним відпалом
Authors Zakharuk, Z.
Dremlyuzhenko, S.
Solodin, S.
Nykonyuk, E.
Rudyk, B.
Kopach, O.
Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych  
Fochuk, P.
ORCID http://orcid.org/0000-0002-1888-3935
Keywords Solid solutions Cd1 – xMnxTe
Твердые растворы Cd1 – xMnxTe
Тверді розчини, Cd1 – xMnxTe
Purification
Очистка
Очищення
Electrical characteristics
Электрические характеристики
Електричні характеристики
Optical measurements
Оптические измерения
Оптичні вимірювання
Inclusions
Включения
Включення
Thermal treatment
Термическая обработка
Термічна обробка
Type Article
Date of Issue 2017
URI http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/65987
Publisher Sumy State University
License
Citation Purification of the Cd(Mn)Te For X-ray Detector Crystals by Special Annealing [Текст] / Z. Zakharuk, S. Dremlyuzhenko, S. Solodin [et al.] // Журнал нано- та електронної фізики. – 2017. – Т.9, № 6. – 06004. – DOI: 10.21272/jnep.9(6).06004.
Abstract To purify Cd0,95Mn0,05Te ingots a modified travelling heater method (called «dry zone») was applied. Even one pass of the zone decreased essentially Te inclusions (size and density) in the ingot. The p-type conductivity and others electrical characteristics of the material almost didn’t change, however the concentration of shallow (εА ≈ 0.05 еV) acceptors reduced and the compensation degree of deeper acceptors (εА ≈ 0.17 еV) increased. Such transformation of a defect-impurity system was manifested in decreasing of the ionized centers’ concentration and in reducing of impurities absorption coefficients both at 0.1-0.5 eV and near the edge of fundamental band.
С целью очистки слитков Cd0,95Mn0,05Te был применен модифицированный метод подвижного нагревателя (названный «сухая зона»). Даже один проход зоны существенно уменьшал включения Te (размер и концентрацию) в слитке. Проводимость p-типа и другие электрические характеристики материала почти не изменились, однако концентрация мелких (εА ≈ 0,05 эВ) акцепторов уменьшилась, а степень компенсации более глубоких акцепторов (εА ≈ 0,17 эВ) увеличилась. Такое преобразование дефектно-примесной системы проявилось в уменьшении концентрации ионизованных центров и в снижении коэффициентов поглощения примесей как при 0,1-0,5 эВ, так и вблизи края фундаментальной зоны.
З метою очищення злитків Cd0,95Mn0,05Te застосований модифікований метод рухомого нагрівника (названий «суха зона»). Навіть один прохід зони суттєво зменшував вкраплення Te (розмір і концентрацію) в злитку. Провідність p-типу та інші електричні характеристики матеріалу майже не змінилися, однак концентрація мілких (εА ≈ 0,05 еВ) акцепторів зменшилася, а ступінь компенсації більш глибоких акцепторів (εА ≈ 0,17 еВ) збільшився. Таке перетворення дефектно-домішкової системи проявилось у зменшенні концентрації іонізованих центрів і у зниженні коефіцієнтів поглинання домішок як при 0,1-0,5 еВ, так і поблизу краю фундаментальної зони.
Appears in Collections: Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics)

Views

Australia Australia
1
France France
1
Germany Germany
1
Ireland Ireland
18369
Japan Japan
1
Lithuania Lithuania
1
Singapore Singapore
1
Ukraine Ukraine
435632
United Kingdom United Kingdom
218232
United States United States
5539962
Unknown Country Unknown Country
10
Vietnam Vietnam
1666

Downloads

China China
1
Germany Germany
1
India India
1
Indonesia Indonesia
1
Japan Japan
1
Lithuania Lithuania
1
Ukraine Ukraine
2170383
United Kingdom United Kingdom
4192127
United States United States
4866048
Unknown Country Unknown Country
4
Vietnam Vietnam
1

Files

File Size Format Downloads
JNEP_06004_5.pdf 467.09 kB Adobe PDF 11228569

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.