Please use this identifier to cite or link to this item:
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/72762| Title: | Рентгенодифракційні методи дослідження кристалічних матеріалів |
| Authors: | Danylchenko, Serhii Mykolaiovych Kuznetsov, Volodymyr Mykolaiovych Protsenko, Ivan Yukhymovych  |
| Keywords: | кристалічна гратка решітки Браве рентгенівське випромінювання кінематична теорія фазовий аналіз crystalline lattice brave lattice X-ray radiation kinematic theory phase analysis кристаллическая решетка решетки Браве рентгеновское излучение кинематическая теория фазовый анализ |
| Issue Year: | 2019 |
| Publisher: | Сумський державний університет |
| Citation: | Данильченко, С.М. Рентгенодифракційні методи дослідження кристалічних матеріалів [Електронний ресурс]: навч. посіб. / С.М. Данильченко, В.М. Кузнецов, І.Ю. Проценко. - Електронне вид. каф. Електроніки, загальної та прикладної фізики. - Суми: СумДУ, 2019. - 135 с. |
| Abstract: | У навчальному посібнику розглянуті основи геометричної кристалографії та питання пов’язані із фізикою рентгенівського випромінювання та практичними методами дослідження структури матеріалів за допомогою рентгенівської дифракції. Навчальний посібник рекомендується студентам і аспірантам електронних спеціальностей університетів, освітні програми яких пов’язані з вивченням властивостей матеріалів мікроелектроніки. |
| URI: | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/72762 |
| Type: | Schoolbook |
| Appears in Collections: | Навчальні та наукові видання видавництва СумДУ |
|
|
||||||||
OtherFiles in This Item:
| File | Description | Size | Format | Downloads | |
|---|---|---|---|---|---|
| Danylchenko_materialy.pdf | 2.37 MB | Adobe PDF | 48 | Download |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.