Please use this identifier to cite or link to this item:
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/72762
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
| Title | Рентгенодифракційні методи дослідження кристалічних матеріалів |
| Authors |
Danylchenko, Serhii Mykolaiovych
Kuznetsov, Volodymyr Mykolaiovych Protsenko, Ivan Yukhymovych 
|
| Keywords |
кристалічна гратка решітки Браве рентгенівське випромінювання кінематична теорія фазовий аналіз crystalline lattice brave lattice X-ray radiation kinematic theory phase analysis кристаллическая решетка решетки Браве рентгеновское излучение кинематическая теория фазовый анализ |
| Type | Schoolbook |
| Date of Issue | 2019 |
| URI | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/72762 |
| Publisher | Сумський державний університет |
| License | |
| Citation | Данильченко, С.М. Рентгенодифракційні методи дослідження кристалічних матеріалів [Електронний ресурс]: навч. посіб. / С.М. Данильченко, В.М. Кузнецов, І.Ю. Проценко. - Електронне вид. каф. Електроніки, загальної та прикладної фізики. - Суми: СумДУ, 2019. - 135 с. |
| Abstract |
У навчальному посібнику розглянуті основи геометричної кристалографії та питання пов’язані із фізикою рентгенівського випромінювання та практичними методами дослідження структури матеріалів за допомогою рентгенівської дифракції.
Навчальний посібник рекомендується студентам і аспірантам електронних спеціальностей університетів, освітні програми яких пов’язані з вивченням властивостей матеріалів мікроелектроніки. |
| Appears in Collections: |
Навчальні та наукові видання видавництва СумДУ |
Views
Ukraine
608
Unknown Country
64
Downloads
Ukraine
606
United States
84
Unknown Country
228
Files
| File | Size | Format | Downloads |
|---|---|---|---|
| Danylchenko_materialy.pdf | 2,37 MB | Adobe PDF | 918 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.