Рентгенодифракційні методи дослідження кристалічних матеріалів

Данильченко, Сергій Миколайович; Кузнецов, Володимир Миколайович; Проценко, Іван Юхимович

Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/72762

Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item

Title	Рентгенодифракційні методи дослідження кристалічних матеріалів
Authors	Danylchenko, Serhii Mykolaiovych Kuznetsov, Volodymyr Mykolaiovych Protsenko, Ivan Yukhymovych
Keywords	кристалічна гратка решітки Браве рентгенівське випромінювання кінематична теорія фазовий аналіз crystalline lattice brave lattice X-ray radiation kinematic theory phase analysis кристаллическая решетка решетки Браве рентгеновское излучение кинематическая теория фазовый анализ
Type	Schoolbook
Date of Issue	2019
URI	http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/72762
Publisher	Сумський державний університет
License
Citation	Данильченко, С.М. Рентгенодифракційні методи дослідження кристалічних матеріалів [Електронний ресурс]: навч. посіб. / С.М. Данильченко, В.М. Кузнецов, І.Ю. Проценко. - Електронне вид. каф. Електроніки, загальної та прикладної фізики. - Суми: СумДУ, 2019. - 135 с.
Abstract	У навчальному посібнику розглянуті основи геометричної кристалографії та питання пов’язані із фізикою рентгенівського випромінювання та практичними методами дослідження структури матеріалів за допомогою рентгенівської дифракції. Навчальний посібник рекомендується студентам і аспірантам електронних спеціальностей університетів, освітні програми яких пов’язані з вивченням властивостей матеріалів мікроелектроніки.
Appears in Collections:	Навчальні та наукові видання видавництва СумДУ