Please use this identifier to cite or link to this item:
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/74982
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Basic Study of Mono-like Silicon Material Properties under Chemical Treatments: Comparison with Single and mc-Silicon |
Other Titles |
Фундаментальне дослідження властивостей квазімонокристалічного кремнію після хімічної обробки: порівняння з монокристалічним та багатокристалічним кремнієм |
Authors |
Benseba, G.
Moussi, A. Meziani, S. Hocine, D. Belkaid, M.S. |
ORCID | |
Keywords |
квазімонокристалічний кремній фізико-хімічні властивості хімічна обробка аналіз текстурування |
Type | Article |
Date of Issue | 2019 |
URI | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/74982 |
Publisher | Sumy State University |
License | |
Citation | Basic Study of Mono-like Silicon Material Properties under Chemical Treatments: Comparison with Single and mc-Silicon [Текст] = Фундаментальне дослідження властивостей квазімонокристалічного кремнію після хімічної обробки: порівняння з монокристалічним та багатокристалічним кремнієм / G. Benseba, A. Moussi, S. Meziani [et al.] // Журнал нано- та електронної фізики. - 2019. - Т. 11, № 5. - 05003. - DOI: 10.21272/jnep.11(5).05003. |
Abstract |
У роботі представлено дослідження квазімонокристалічного кремнієвого матеріалу (ML-Si). Його
фізичні та хімічні властивості аналізуються та порівнюються із властивостями монокристалічного
кремнію Чохральського (Cz-Si) та багатокристалічного кремнію (mc-Si). Після хімічної обробки кожного матеріалу поверхню аналізують за допомогою скануючої електронної мікроскопії (SEM) та рентгенівської дифракції (XRD). Ми спостерігаємо, що Cz-Si та ML-Si мають однакову морфологію та кристалографічну орієнтацію. Аналіз FTIR показує вміст кисню того ж порядку для трьох матеріалів, але зі значеннями ML-Si, ближчими до значень mc-Si. Заміщуюча концентрація вуглецю є проміжною для ML-Si між концентраціями Cz-Si та mc-Si. Коефіцієнт відбиття ML-Si на 5 % вищий, ніж для Cz-Si, і набагато нижчий, ніж для mc-Si, після текстури NaOH. Аналіз фотолюмінесценції показує, що матеріали ML-Si та Cz-Si мають кращу однорідність, ніж матеріал mc-Si. На завершення, ми представляємо переваги та недоліки ML-Si у порівнянні з Cz-Si та mc-Si. ML-Si має кращі властивості матеріалу, має небагато меж зерен та дислокацій порівняно з mc-Si. Крім того, оскільки ML-Si містить одне зерно, це дозволяє отримати менший коефіцієнт відбиття поверхні за допомогою лужного текстурування. Також ми виявили, що ML-Si майже ідентичний Cz-Si. In this paper, we present the study of the silicon mono-like (ML-Si) material. Its physical and chemical properties are analyzed and compared to those of Czochralski-monocrystalline silicon (Cz-Si) and multicrystalline silicon (mc-Si). After chemical treatment of each material, the surface is analyzed by scanning electron microscopy (SEM) and X-ray diffraction (XRD). We observe that Cz-Si and ML-Si present the same morphology and crystallographic orientation. FTIR analysis shows an (interstitial) oxygen content of the same order for three materials but with values of ML-Si closer to that of mc-Si. Substitutional carbon concentration is intermediate for ML-Si between those of Cz-Si and mc-Si. Reflectivity of ML-Si is 5 % higher than that of Cz-Si and much lower than mc-Si surface after NaOH texture. Photoluminescence analysis indicates that ML-Si and Cz-Si materials present better homogeneity than mc-Si material. At the final, we present the advantages and drawbacks of ML-Si material with regard to Cz-Si and mc-Si. ML-Si has better material properties, having fewer grain boundaries and dislocations compared to mc-Si. In addition, containing a single grain allows a lower surface reflectance to be obtained by using alkaline texturing. We also find that ML-Si is almost identical to Cz-Si. |
Appears in Collections: |
Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics) |
Views
![Algeria](/flags/dz.gif)
1
![France](/flags/fr.gif)
1
![Germany](/flags/de.gif)
1050005
![Greece](/flags/gr.gif)
1
![India](/flags/in.gif)
40905
![Ireland](/flags/ie.gif)
15178
![Lithuania](/flags/lt.gif)
1
![Netherlands](/flags/nl.gif)
1
![Singapore](/flags/sg.gif)
4884848
![Ukraine](/flags/ua.gif)
122291
![United Kingdom](/flags/gb.gif)
40903
![United States](/flags/us.gif)
11162112
![Unknown Country](/flags/--.gif)
122290
![Vietnam](/flags/vn.gif)
839
Downloads
![Algeria](/flags/dz.gif)
15178
![France](/flags/fr.gif)
1
![Germany](/flags/de.gif)
1
![India](/flags/in.gif)
1
![Lebanon](/flags/lb.gif)
1
![Lithuania](/flags/lt.gif)
1
![Singapore](/flags/sg.gif)
1
![South Korea](/flags/kr.gif)
1
![Ukraine](/flags/ua.gif)
365179
![United Kingdom](/flags/gb.gif)
1
![United States](/flags/us.gif)
3492427
![Unknown Country](/flags/--.gif)
1
![Vietnam](/flags/vn.gif)
1
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
Benseba_jnep_5_2019.pdf | 707,99 kB | Adobe PDF | 3872794 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.