Please use this identifier to cite or link to this item:
https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/99673
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Дослідження азотовмісних покриттів, отриманих методом електроіскрового легування, на стальній підкладці |
Authors |
Haponova, Oksana Petrivna
![]() Лапоног, Г.П. Ходаков, О.О |
ORCID |
http://orcid.org/0000-0002-4866-0599 |
Keywords |
азотовмісні покриття електроіскрове легування тверді сплави nitrogen-containing coatings electro-spark alloying hard alloys |
Type | Conference Papers |
Date of Issue | 2025 |
URI | https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/99673 |
Publisher | Сумський державний університет |
License | In Copyright |
Citation | Гапонова О. П., Лапоног Г. П., Ходаков О. О. Дослідження азотовмісних покриттів, отриманих методом електроіскрового легування, на стальній підкладці // Сучасні технології у промисловому виробництві : матеріали XII Всеукраїнської науково-технічної конференції, м. Суми, 22–25 квітня 2025 р. / редкол. : О. Г. Гусак, І. В. Павленко. Суми : Сумський державний університет, 2025. С. 58. |
Abstract |
Дослідження виконані на вуглецевій сталі С40. Для всіх досліджених
параметрів ЕІЛ структура покриттів складається з трьох областей: верхнього
«білого шару», дифузійної зони і підкладки. Дюрометричний аналіз показав,
що мікротвердість поступово зменшується від верхнього шару до основи, отже
при ЕІЛ формуються шари з високою адгезією до оброблюваного матеріалу.
Мікротвердість зміцненого шару становить близько 10 ГПа при енергії
розряду 0,52 Дж. Товщина шарів зростає зі збільшенням енергії розряду.
Мікротвердість, суцільність і шорсткість поверхні шарів також зростають.
Фазовий склад покриттів представлений ОЦК твердим розчином і нітридом
заліза. |
Appears in Collections: |
Наукові видання (ТеСЕТ) |
Views
Downloads
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
Haponova_electro_spark_alloying.pdf | 329.51 kB | Adobe PDF | 0 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.