Please use this identifier to cite or link to this item: https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/100284
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title Oblique Incidence E-polarized Photons on Infinite Periodic Grating of Metal Strips
Other Titles Похиле падіння E-поляризованих фотонів на нескінченну періодичну ґратку металевих стрічок
Authors Bezougly, A.V.
Petchenko, O.M.
Poyda, A.V.
Dulfan, G.Y.
Didenko, O.M.
Shishko, N.S.
ORCID
Keywords дифракція
решітка
квант
псі-функція
амплітуда ймовірності
дифракційна картина
фотон
diffraction
grating
quantum
psi-function
probability amplitude
diffraction pattern
photon
Type Article
Date of Issue 2025
URI https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/100284
Publisher Sumy State University
License Creative Commons Attribution 4.0 International License
Citation A.V. Bezougly et al., J. Nano- Electron. Phys. 17 No 4, 04005 (2025) https://doi.org/10.21272/jnep.17(4).04005
Abstract Розглянуто дифракцію однорідного потоку одиничної густини E-поляризованих фотонів на решітці нескінченно тонких металевих смуг. Імовірність знаходження фотона в будь-якій точці представлена псіфункцією, що задовольняє рівнянню Шредінгера і граничним умовам рівності нулю на смугах і неперервності на щілинах. Ця робота передбачає подальший розвиток квантовомеханічного підходу до розв’язання задач дифракції на періодичних структурах. Для вирішення задачі використовується строгий метод крайової задачі Рімана-Гільберта. Суть його полягає в тому, що розв'язок системи функціональних рівнянь зводиться до відновлення аналітичної функції у всій площині комплексної змінної за сумою її граничних значень на дузі одиничного кола. Невідомі коефіцієнти функції, представлені у вигляді ряду Фур'є, визначаються із нескінченної системи алгебраїчних рівнянь, що добре сходиться. За допомогою ПК проведено чисельні експерименти з дослідження розподілу ймовірностей Eполяризованих фотонів із широкою зміною параметрів задачі. Наведено залежності квадрата модуля псіфункції від відношення довжини хвилі до періоду ґратки, від відношення ширини щілини до періоду ґратки для різних значень кута падіння потоку фотонів і відстані від ґратки. Оскільки графічні залежності періодично повторюються, вони подані для одного періоду. На основі аналізу отриманих залежностей зроблено висновки щодо співвідношення параметрів, при яких за спостережуваною дифракційною картиною можна точно визначити сталу ґратки. При нормальному падінні на ґратку це зручніше робити, спостерігаючи дифракційну картину за ґраткою, при похилому падінні - перед ґраткою.
Diffraction of a homogeneous unit density flow of E-polarized photons on a grating of infinitely thin metallic strips is considered. Probability of finding a photon in any point is represented by psi-function, satisfying to Schrödinger equation and boundary conditions of equality zero on the strips and continuity on the slits. This work provides further development of quantum-mechanical contemplation of the diffraction problem on the periodical structures. To solve the problem, the strict Riemann-Hilbert boundary value problem method is used. The essence of it is that the solution of the functional equations system is reduced to the restoration of the analytical function in the entire plane of the complex variable, based on the sum of its limit values on the arc of the unit circle. The unknown coefficients of the function, represented as a Fourier series, are determined from a well-converging infinite system of algebraic equations. Using PC, numerical experiments were performed to study the probability distribution of E-polarized photons with a wide change in the parameters of the problem. The dependences of the square of the psifunction module on the ratio between the wavelength and the grating period, on the ratio between the slit width and the grating period are presented for different values of the angle of incidence of the photon flux and the distance from the grating. Based on the analysis of the obtained dependencies, conclusions about the ratios of parameters at which the grating constant can be determined more accurately from the observed diffraction pattern were made. With normal incidence on the grating, it is more convenient to do this by observing the diffraction pattern behind the grating, with oblique incidence - in front of the grating
Appears in Collections: Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics)

Views

Unknown Country Unknown Country
1

Downloads

Files

File Size Format Downloads
Bezougly_jnep_4_2025.pdf 562.7 kB Adobe PDF 0

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.