Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/43156
Використовуйте наступні посилання для розповсюдження матеріалу в соціальних мережах:
Tweet
Рекомендувати цей матеріал
Назва | Substructural investigations, Raman, and FTIR spectroscopies of nanocrystalline ZnO films deposited by pulsed spray pyrolysis |
Автори |
Доброжан, Олександр Анатолійович
![]() Опанасюк, Анатолій Сергійович ![]() Колесник, Максим Миколайович ![]() Демиденко, Максим Геннадійович Cheong, Hyeonsik |
ORCID |
http://orcid.org/0000-0001-9238-7596 http://orcid.org/0000-0002-1888-3935 http://orcid.org/0000-0003-2019-8387 |
Ключові слова |
ZnO ZnO ZnO тонкі плівки тонкие пленки thin films структура структура structure імпульсний спрей піроліз импульсный спрей пиролиз pulsed spray pyrolysis FTIR spectroscopy Raman spectroscopy |
Вид документа | Стаття |
Дати випуску | 2015 |
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу) | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/43156 |
Видавець | WILEY-VCH |
Ліцензія | Copyright не зазначено |
Бібліографічний опис | Substructural investigations, Raman, and FTIR spectroscopies of nanocrystalline ZnO films deposited by pulsed spray pyrolysis [Текст] / O. Dobrozhan, A. Opanasyuk, M. Kolesnyk et al. // Phys. Status Solidi. - 2015. - No. 12. - P. 2915–2921. |
Короткий огляд (реферат) |
Nanocrystalline ZnO films were deposited on to glass substrates in the temperature range of 473–673Kusing pulsed spray pyrolysis. The structural, substructural, and optical properties of the films were investigated bymeans of X-ray diffraction analysis, Raman scattering, and Fourier transform infrared (FTIR) spectroscopy.
The effect of the substrate temperature (Ts) on the coherent scattering domain (CSD) sizes L, microstrains e, andmicrostress s grades, and the average density of dislocations r in the films were estimated through the broadening of X-ray lines using the Cauchy and Gauss approximations and the threefold function convolution method. The ZnO films grown at Ts¼623–673K possessed the highest values of L, and the lowest of e, s, and r, indicating high-crystalline quality. The Raman spectra showed peaks located at 95–98, 333–336, 415, 439–442, 572, and 578– 584 cm 1, which were interpreted as E2 low(Zn), (E2 high E2 low), E1(TO), E2 high(O), A1(LO) and E1(LO) phonon modes of the ZnO wurtzite phase. The FTIR spectra showed relatively weak signals at 856, 1405, and 1560 cm 1, corresponding to the C–H and C–O stretching modes, in addition to the main Zn–O mode at 475cm 1, indicating a low content of precursor residues. |
Розташовується у зібраннях: |
Наукові видання (ЕлІТ) |
Views

1

1

1

1145220649

2

2

13679905

139097

3

3247300

1

1

1

11992

1

1

1

1

61890595

-274170647

-1901979510

139100

141001004
Downloads

-1780501314

1

13679908

71940

1

-1780501318

1

27355029

1145220644

27355037

1

27355029

-1780501316

1520513

1

61890591

1

-1780501311

1

1

1520523

1

1

1

1

-1780501309

210669763

1

423000606
Files
Файл | Розмір | Формат | Downloads |
---|---|---|---|
Dobrozhan_films_ZnO.pdf | 451.5 kB | Adobe PDF | 1627067620 |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.