Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/46102
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title Structural and microstructural properties of CdxZn1-xTe films deposited by Close Spaced Sublimation
Authors Znamenshchykov, Yaroslav Volodymyrovych  
Kosiak, Volodymyr Volodymyrovych
Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych  
Kolesnyk, Maksym Mykolaiovych
Hrynenko, Vitalii Viktorovych
Fochuk, P.M.
Keywords елементний склад Cd1-xZnxTe
элементный состав Cd1-xZnxTe
elemental composition Cd1-xZnxTe
мікронапруження
микронапряжения
microstresses
текстура
texture
параметри кристалічної гратки
параметры кристаллической решетки
lattice parameter
розміри областей когерентного розсіювання
размеры областей когерентного рассеивания
coherent scattering domains size
Type Article
Date of Issue 2016
URI http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/46102
Publisher Journal "Functional Materials"
License
Citation Structural and microstructural properties of CdxZn1-xTe films deposited by Close Spaced Sublimation [Text] / Y.V. Znamenshchykov, V.V. Kosyak, A.S. Opanasyuk and etc. // Functional materials. - 2016. - V. 23, No. 1 - P. 32–39.
Abstract В роботі були досліджені структурні властивості (мікронапруження, текстура, період гратки, розмір областей когерентного розсіювання) та хімічний склад плівок Cd1-xZnxTe (CZT) зі змінною концентрацією цинку. Шари отримані методом термічного випаровування в квазізамкненому об’ємі на підкладках зі скла, покритого молібденом. Властивості плівок були досліджені за допомогою методів рентгенівської дифрактометрії, енергодисперсної спектроскопії, скануючої електронної мікроскопії. Концентрація цинку в шарах CdZnTe була визначена за результатами EDS та за значеннями параметра кристалічної гратки матеріалу, відповідно до літературних даних. Було встановлено, що шари CZT мали концентрації цинку: x = 0.09, x = 0.24, x = 0.30.
В работе были исследованы структурные свойства (микронапряжения, текстура, период решетки, размер областей когерентного рассеивания) и химический состав пленок Cd1-xZnxTe (CZT) с переменной концентрацией цинка. Слои получены методом термического испарения в квазизамкнутом объеме на подложках со стекла, покрытого молибденом. Свойства пленок были исследованы с помощью методов рентгеновской дифрактометрии, енергодисперсной спектроскопии, сканирующей электронной микроскопии. Концентрация цинка в слоях CdZnTe была определена по результатам EDS и по значению параметра кристаллической решетки материала, в соответствии с литературными данными. Было установлено, что слои CZT имели концентрации цинка: x = 0.09, x = 0.24, x = 0.30.
In this work the structural properties (microstresses, texture, lattice parameter, coherent scattering domains size) and chemical composition of Cd1-xZnxTe (CZT) films with variable zinc concentration were studied. Films were deposited on molybdenum coated glass substrates by close spaced vacuum sublimation method (CSVS). Properties of samples were investigated by XRD (X-ray diffraction), EDS (energy dispersive spectroscopy), SEM (scanning electron microscopy). Zinc concentration in CdZnTe layers was determined by EDS and from the lattice parameter, according to the literature data. Namely, it was determined that CZT films had following Zn concentrations: x = 0.09, x = 0.24, x = 0.30.
Appears in Collections: Наукові видання (ЕлІТ)

Views

Canada Canada
1
China China
6
Finland Finland
1
France France
2
Germany Germany
70
Italy Italy
1
Latvia Latvia
1
Russia Russia
5
Singapore Singapore
1
South Africa South Africa
1
Ukraine Ukraine
930
United States United States
7
Unknown Country Unknown Country
34

Downloads

China China
4
France France
1
Germany Germany
3
Latvia Latvia
1
Ukraine Ukraine
929
United States United States
6
Unknown Country Unknown Country
5

Files

File Size Format Downloads
Znamenshchykov.pdf 2,35 MB Adobe PDF 949

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.