Please use this identifier to cite or link to this item:
https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/87647
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Effect of Channel Material on the Performance Parameters of GAA MOSFET |
Other Titles |
Вплив матеріалу каналу на експлуатаційні параметри GAA MOSFET |
Authors |
Jeevanarao, B.
Rudra, S.D. |
ORCID | |
Keywords |
GAA підпороговий нахил (SS) матеріал нанодроту метал-оксид-напівпровідник (MOS) аналогова частота gate all around (GAA) subthreshold slope (SS) nanowire material metal oxide semiconductor (MOS) analog frequency |
Type | Article |
Date of Issue | 2022 |
URI | https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/87647 |
Publisher | Sumy State University |
License | In Copyright |
Citation | Jeevanarao Batakala, Rudra Sankar Dhar, J. Nano- Electron. Phys. 14 No 2, 02003 (2022). DOI: https://doi.org/10.21272/jnep.14(2).02003 |
Abstract |
У роботі пропонується аналіз характеристик польового транзистора з каналом із циліндричного
нанодроту для двох матеріалів каналу, а саме Si та GaAs. Характеристики транзистора GAA-NWMOSFET з нанодротами Si та GaAs в діапазоні 20 нм досліджуються за допомогою симулятора структури ATLAS. Результати моделювання показують, що пристрій з Si має набагато кращу порогову напругу та підпорогове коливання, а пристрій з GaAs має найкраще співвідношення струмів ION/IOFF та
менше значення DIBL. Крім того, порівнюються експлуатаційні характеристики аналогових пристроїв для двох різних матеріалів (Si та GaAs), такі як струм стоку, крутизна, а також вихідна провідність,
підпороговий нахил (SS) і порогова напруга пристрою. Встановлено, що матеріал GaAs забезпечує
знижений струм приводу та менший струм витоку, даючи високе ION/IOFF. З точки зору SS, матеріал Si
забезпечує ідеальну та стабільну роботу пристрою. The paper proposes an analysis of the characteristics of a cylindrical nanowire field effect transistor for two channel materials, namely Si and GaAs. The performance curves of Si and GaAs nanowire MOSFETs (GAA-NW-MOSFETs) in the 20 nm region are investigated via structure simulator called ATLAS. The simulation results show that the Si device has a much better threshold voltage and subthreshold swing, but the GaAs device has the best ION/IOFF current ratio and less drain-induced barrier-lowering (DIBL). Furthermore, performance characteristics of analog devices such as drain current, transconductance, as well as output conductance, subthreshold slope (SS) and threshold voltage of the device are compared for two different materials (Si and GaAs). It is found that the GaAs material provides reduced drive current and lower leakage current, giving a high ION/IOFF. In terms of SS, the Si material in the device ensures the perfect and stable device performance. |
Appears in Collections: |
Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics) |
Views

327415880

69

1

1

468

1

1

-1363775258

1

1

3125098

1470514734

1

28716995

9837426

-1363775248

2043393163

140947
Downloads

1

1

327415881

1

1470514727

9837428

9837421

1

1470514730

1

-1363775250

1

1

1470514732

86138382

1

-1363775253

1470514727

140948
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
Jeevanarao_jnep_2_2022.pdf | 397.64 kB | Adobe PDF | -707088815 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.