Please use this identifier to cite or link to this item: https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/87659
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title Features of Low-Temperature GaAs Formation for Epitaxy Device Structures
Other Titles Особливості низькотемпературного утворення GaAs для структур епітаксійних пристроїв
Authors Krukovskyi, S.I.
Arikov, V.
Voronko, A.O.
Antonyuk, V.S.
ORCID
Keywords арсенід галію
рідкоземельний елемент
профіль розподілу носіїв заряду
інтерфейс
прилади терагерцового діапазону
gallium arsenide
rare-earth element
profile of charge carrier distribution
interface
terahertz range devices
Type Article
Date of Issue 2022
URI https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/87659
Publisher Sumy State University
License In Copyright
Citation S.I. Krukovskyi, V. Arikov, A.O. Voronko, V.S. Antonyuk, J. Nano- Electron. Phys. 14 No 2, 02016 (2022). DOI: https://doi.org/10.21272/jnep.14(2).02016
Abstract В статті представлені результати по особливостях формування низькотемпературного арсеніду галію під впливом комплексного легування рідкісноземельним елементом ітербієм та алюмінієм. Методом CV-профілометрії досліджені електрофізичні властивості епітаксійних шарів, а структурні характеристики – з використанням XRD. Показано, що за певних оптимальних концентрацій ітербію (3,0- 3,2·10 – 3 ат. %) та алюмінію (1·10 – 3 ат. %) можна отримувати структурно досконалі епітаксійні шари GaAs з низькою концентрацією носіїв, а модуляція швидкості зниження температури дозволяє отримати більш різку границю розділу шарів з різним рівнем легування. Такі шари можна використовувати в складі фотодіодних чи НВЧ структур. Встановлено, що збільшення концентрації ітербію в розплаві спричиняє погіршення структурних властивостей шарів, зумовлених генерацією додаткових дефектів, що може бути використано для створення оптоелектронних пристроїв терагерцового діапазону.
This article presents the results on the peculiarities of the formation of low-temperature gallium arsenide under the influence of complex doping with rare-earth elements ytterbium and aluminum. The electrophysical properties of the epitaxial layers were investigated by ECV profiling, and the structural characteristics using XRD. It is shown that at certain optimal concentrations of ytterbium ((3.0-3.2)·10 – 3 at. %) and aluminum (1·10 – 3 at %) it is possible to obtain structurally perfect GaAs epitaxial layers with a low concentration of carriers, and modulation of the rate of temperature decrease allows to obtain a sharper interface between layers with different doping levels. Such layers can be used in photodiode or microwave structures. It is established that an increase in the concentration of ytterbium in the melt causes deterioration of the structural properties of the layers due to the generation of additional defects, which can be used to create optoelectronic devices in the terahertz range.
Appears in Collections: Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics)

Views

Australia Australia
1
China China
236786901
Finland Finland
74
France France
1
Germany Germany
9481591
Greece Greece
90
Hong Kong SAR China Hong Kong SAR China
1
Ireland Ireland
578030
Japan Japan
1
Lithuania Lithuania
1
Nigeria Nigeria
1
Ukraine Ukraine
236786902
United Kingdom United Kingdom
4752164
United States United States
236786903
Unknown Country Unknown Country
67670558
Vietnam Vietnam
88

Downloads

China China
792843308
France France
1
Germany Germany
4752162
Japan Japan
135341115
Lithuania Lithuania
1
Malaysia Malaysia
2588775
Poland Poland
80
Singapore Singapore
1
Ukraine Ukraine
33895329
United Kingdom United Kingdom
1
United States United States
792843310
Unknown Country Unknown Country
1
Vietnam Vietnam
1

Files

File Size Format Downloads
Krukovskyi_jnep_2_2022.pdf 330,25 kB Adobe PDF 1762264085

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.