Please use this identifier to cite or link to this item: https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/88133
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title Приладово-технологічне моделювання NanowireFET’s на основі деформованого кремнію
Other Titles Technological simulation of nanowire-FET’s based on deformed silicon
Authors Черепов, Б.С.
ORCID
Keywords тривимірні транзисторні структури
трехмерные транзисторные структуры
three-dimensional transistor structures
деформований кремній
деформированный кремний
deformed silicon
коротко канальні ефекти
коротко канальные эффекты
short channel effects
температурні ефекти
температурные эффекты
temperature effects
Type Bachelous Paper
Date of Issue 2022
URI https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/88133
Publisher Конотопський інститут Сумського державного університету
License Copyright not evaluated
Citation Черепов Б. С. Приладово-технологічне моделювання NanowireFET’s на основі деформованого кремнію : робота на здобуття кваліфікаційного ступеня бакалавра : спец. 171 – електроніка / наук. кер. І. П. Бурик. Конотоп : КІ СумДУ, 2022. 44 с.
Abstract Об’єктом дослідження кваліфікаційної роботи є тривимірні структури польових транзисторів на основі деформованого кремнію та їх електричні характеристики. Мета роботи полягає у дослідженні впливу масштабування та квантових ефектів у каналах тривимірних транзисторів на основі деформованого кремнію на їх робочі характеристики. Одночасно зі зменшенням розмірів елементів інтегральних мікросхем вирішення теплових проблем пристроїв, що входять до їх складу набуває все більшої актуальності. Інтегральні схеми, що використовуються у військовій, автомобільній та атомній промисловості потребують високих робочих температур. Дослідження впливу різних факторів на самонагрівань FinFET пристроїв є перспективним. Проте наразі чисельних досліджень процесів самонагріву в тривимірних транзисторах типу FinFET недостатньо. Робота складається із вступу, трьох розділів основної частини та висновків. У першому розділі наведено огляд FET технологій, яка використовується для виготовлення елементів інтегральних мікросхем. У другому розділі розглядаються методи побудови тривимірних структур транзисторів та їх вольт-амперних характеристик за допомогою програмного пакету Silvaco TCAD. У третьому розділі були спроектовані польові транзистори на основі деформованого кремнію та досліджені на вплив масштабування та температури на їх робочі характеристики.
Appears in Collections: Кваліфікаційні роботи здобувачів вищої освіти (КІ)

Views

Argentina Argentina
1
Germany Germany
1
India India
1
Iran Iran
1
Ireland Ireland
133
Switzerland Switzerland
1
Ukraine Ukraine
878
United Kingdom United Kingdom
439
United States United States
2598
Unknown Country Unknown Country
877

Downloads

Germany Germany
440
India India
1
Netherlands Netherlands
1
Ukraine Ukraine
2599
United States United States
2598

Files

File Size Format Downloads
Cherepov_bac_rob.pdf 2,34 MB Adobe PDF 5639

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.