Please use this identifier to cite or link to this item: https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/96983
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title The Experimental Setup for the Study of Sources of Positive and Negative Ions
Other Titles Експериментальний стенд для вивчення джерел позитивних та негативних іонів
Authors Baturin, V.A.
Roenko, O.Yu.
Karpenko, O.Yu.
Litvinov, P.O.
ORCID
Keywords джерела іонів
експериментальний стенд
іонний пучок
емітанс
масовий та енергетичний розподіл
ion sources
experimental setup
ion beam
emittance
particle mass and energy distribution
Type Article
Date of Issue 2024
URI https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/96983
Publisher Sumy State University
License Creative Commons Attribution 4.0 International License
Citation V.A. Baturin et al., J. Nano- Electron. Phys. 16 No 4, 04035 (2024) https://doi.org/10.21272/jnep.16(4).04035
Abstract У сучасній медицині, прискорювальній техніці, виробництві напівпровідників існує потреба в розробці джерел іонів різних елементів, здатних генерувати струми в широкому діапазоні значень від 1 мкА до 100 мА. Перед використанням створених джерел іонів у конкретних прикладних випадках необхідно їх детально дослідити, оптимізувати робочі параметри та вивчити основні характеристики іонного пучка. Струм, емітанс, яскравість, розподіл енергії та масовий склад, стабільність вихідного сигналу пучка є важливими для отримання якісного результату. У статті представлено розроблений в ІПФ НАНУ стенд для випробування джерел іонів. Розроблена установка дозволяє досліджувати різні джерела іонів металів і газу, як негативних, так і позитивних іонів. Установка має всі інструменти для детального дослідження таких параметрів іонного струму, як розподіл іонів за енергіями, по масі, емітанс, профіль пучка, витрата робочого газу. Розроблений прилад для вимірювання розподілу іонів за масою дозволяє досліджувати елементний склад пучка. Вимірювання розподілу частинок за енергією необхідно для дослідження джерела на можливість його використання з конкретними прискорювачами заряджених частинок і технологіями імплантації. Емітансометр дозволяє дослідити емітанс пучка і отримати його профіль. На установці проведено серію досліджень розпилювального джерела іонів металу, дуоплазматрона, джерела негативних іонів, детально вивчено характеристики створюваних ними пучків іонів, визначено значення емітансу та масового розподілу частинок. Розроблена установка дозволяє забезпечити детальне дослідження практично будь-якого типу джерел іонів для технологій іонної імплантації.
In modern medicine, accelerator technology, semiconductor production, there is a need to develop ion sources of various elements capable of generating currents in a wide range of values from 1 µA to 100 mA. Before using the created ion sources in specific applied cases, it is necessary to study them in detail, optimize the operating parameters and study the main characteristics of the ion beam. Current, emittance, brightness, energy distribution and mass composition, stability of the beam output signal are important for obtaining a quality result. The article presents a stand for testing ion sources developed at the IAP of NASU. The developed installation allows researching various sources of metal and gas ions, both negative and positive ions. The installation has all the tools for a detailed study of such parameters of the ion current as the distribution of ions by energy, by mass, emittance, beam profile, working gas consumption. The developed device for measuring the distribution of ions by mass allows studying the elemental composition of the beam. Measurement of the distribution of particles by energy is necessary to study the source for the possibility of its use with specific accelerators of charged particles and implantation technologies. The emittance meter allows you to study the emittance of the beam and obtain its profile. At the installation, a series of studies of the sputtering source of metal ions, the duoplasmatron, and the source of negative ions were carried out, the characteristics of the ion beams created by them were studied in detail, and the values of emittance and mass distribution of particles were determined. The developed facility allows for detailed research of almost any type of ion sources for ion implantation technologies.
Appears in Collections: Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics)

Views

Downloads

Files

File Size Format Downloads
Baturin_jnep_4_2024.pdf 679.25 kB Adobe PDF 0

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.