Experiments on the Molecular Mechanism and Interface Structure of Pure and Doped Polymer Nanocomposites Used in Microelectronics

Abstract

Полівінілкарбазол (PVK) демонструє чудові властивості інтерфейсу, незважаючи на його структурні властивості, які відіграють домінуючу роль у нанокомпозитах. У роботі ми спробували ідентифікувати інтерфейс та молекулярний механізм у зразках чистого PVK та PVK, легованого нано ZnO. Досліджено експлуатаційні характеристики зразків литої фольги з чистого PVK та PVK, сенсибілізованого нано ZnO, з подібними (Al-Al) комбінаціями електродів шляхом варіювання температури від 30 до 170 °C. Полімерні зразки демонструють максимуми діелектричних втрат близько 100±10 °C. Пік зміщений у бік нижчих температур, і зміни виявлені при дослідженні термічно-стимульованого розрядного струму короткого замикання (TSDC). Результати показують, що інтерфейс полімеру та поведінка матриці підходять для застосування у пристроях мікроелектроніки. Положення α-піку TSDC виявилося порівнянним з α-піком, отриманим методом діелектричної релаксаційної спектроскопії. Результати, одержані за допомогою TSDC, XRD та EDX аналізу, добре узгоджуються з результатами TSDC та інтерфейсом перенесення заряду полімерної матриці.

Polyvinylcarbazole (PVK) exhibits excellent interface properties despite its structural properties playing a dominant role in nanocomposites. In the present work, we attempted to identify the interface and the molecular mechanism in pure and nano ZnO doped PVK samples. The performance of solution-cast foil samples of pure and nano ZnO sensitized PVK samples with similar (Al-Al) electrode combinations was studied by varying temperature from 30 to 170 °C. Polymer samples exhibit dielectric loss maxima around 100±10 °C. The peak is shifted towards lower temperatures, and variation is found in short circuit thermally stimulated discharge current (TSDC) study. The results show that the polymer interface and matrix behavior are suitable for microelectronic device applications. The location of the TSDC α-peak is found to be comparable with the α-peak obtained by dielectric relaxation spectroscopy. The results obtained by TSDC, XRD, and EDX analysis are in good agreement with the results of TSDC and charge transfer interface of the polymer matrix.